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J-GLOBAL ID：201902220709925652   整理番号：19A0190292

最大エントロピー原理とブートストラップに基づくRAMのシングルイベントアップセット信頼性評価【JST・京大機械翻訳】

Single Event Upset Reliability Assessment for RAM Based on Maximum Entropy Principle and Bootstrap

著者 (5件)： Zhang Zhongqing ,  Fu Guicui ,  Guo Wendi ,  Su Yutai ,  Wang Bo
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： PHM-Chongqing  ページ： 191-195  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 過酷な放射環境において,ランダムアクセスメモリ(RAM)は単一イベントアップセット(SEU)により失敗する。RAMの故障は,軌道上宇宙船の安全性と信頼性を深刻に脅かす。誤差検出と補正(EDAC)が強化された装置のために,本論文は,最大エントロピー原理(MEP)とブートストラップを組み合わせた小サンプル試験データを用いた信頼性評価方法論を提供した。最初に,MEPによる地上および軌道試験データを用いて,SEU速度の最適分布関数を決定した。第二に,異なる信頼水準の下の関数議論の信頼区間を,パラメトリックブートストラップ法によって推定した。次に,単一イベントアップセット信頼性評価方法論を,EDACを強化したRAMのために提案した。最後に,上記の方法と組み合わせた地上および軌道試験データを用いて,RAMのための信頼性評価の事例研究を与えた。評価は,EDAC下でのRAMの信頼性を定量的に評価するために,小サンプルデータと組み合わせることができる。本論文における評価方法論は,強い適用性と良いporビリティの特性を持った。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 信頼度 ,  RAM【メモリ】 ,  信頼区間 ,  事例研究 ,  誤り検出 ,  *ブートストラップ ,  *信頼性 ,  宇宙飛行体 ,  分布関数 ,  *SEU【シングルイベント】 ,  適応性 ,  安全性
準シソーラス用語： 評価方法論 ,  試験データ ,  *信頼性評価 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 最大エントロピー原理 ,  ブートストラップ ,  RAM ,  シングルイベントアップセット ,  信頼性評価