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J-GLOBAL ID：201902221592795685   整理番号：19A1040430

新しいIEEE STD 1812によるIPM同期機のインダクタンス試験と典型的な実験室実践【JST・京大機械翻訳】

Inductance Testing for IPM Synchronous Machines According to the New IEEE Std 1812 and Typical Laboratory Practices

著者 (4件)： Rallabandi Vandana (Department of Electrical and Computer Engineering, University of Kentucky, Lexington, USA) ,  Taran Narges (Department of Electrical and Computer Engineering, University of Kentucky, Lexington, USA) ,  Ionel Dan M. (Department of Electrical and Computer Engineering, University of Kentucky, Lexington, USA) ,  Zhou Ping (ANSYS, Inc., Pittsburgh, USA)
資料名： IEEE Transactions on Industry Applications  (IEEE Transactions on Industry Applications)
巻： 55  号： 3  ページ： 2649-2659  発行年： 2019年 
JST資料番号： A0338B  ISSN： 0093-9994  CODEN： ITIACR  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 等価回路パラメータは,電力電子駆動制御の性能推定と実装の基礎として役立ち,従って,それらの正確な評価は非常に重要である。新しく承認されたIEEE Std 1812に規定されている短絡試験を,バックemfと同期インダクタンスを決定するために,開回路測定と組み合わせて使用することができる。内部永久磁石(IPM)機械の場合,この方法はd軸インダクタンスを決定するためにのみ使用でき,q軸インダクタンスに対して追加的で分離した測定が必要である。この点において,種々の方法,直流ステップ応答試験,負荷試験,および可変電圧と一定周波数供給におけるロック回転子測定を含む工業における広く使用される試験を,二次元有限要素解析に基づいて詳細に研究した。直流電流供給と静的トルク対回転子位置測定に基づくロック回転子法を,標準化された開回路と短絡試験と組み合わせてq軸インダクタンスを決定するために導入した。異なる試験から決定したインダクタンスの重要な研究を行い,非正弦波バックemf,比較的高いトルクリップル,および低い漏れを持つIPMモータ設計に関する実験結果を示した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 二次元 ,  標準化 ,  電圧 ,  *同期機 ,  直流 ,  *インダクタンス ,  *IEEE ,  トルク ,  電力 ,  回路定数 ,  永久磁石 ,  開路 ,  位置測定
準シソーラス用語： トルクリプル ,  有限要素解析 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 電動機  (NB07030U)

タイトルに関連する用語 (7件)： IEEE ,  STD ,  IPM ,  同期機 ,  インダクタンス ,  試験 ,  実験室