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J-GLOBAL ID：201902222711799113   整理番号：19A1522677

二次元シングルショット擬似コム干渉計のための離散周波数掃引レーザの開発

Development of discrete frequency swept laser for 2D single-shot pseudo comb interferometry

著者 (5件)： TRUONG Tuan Cong (Saitama Univ., Saitama, JPN) ,  TRUONG Tuan Cong (Hanoi Univ. Sci. and Technol., Hanoi, VNM) ,  BANH Tuan Quoc (Saitama Univ., Saitama, JPN) ,  BANH Tuan Quoc (Sevensix Inc., Tokyo, JPN) ,  SHIODA Tatsutoshi (Saitama Univ., Saitama, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 58  号： 5  ページ： 056503.1-056503.6  発行年： 2019年05月 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 二次元シングルショットショット擬似コム干渉測定のために,10kHzオーダの十分な掃引繰返し速度(SRR)をもつ離散周波数掃引レーザを提案し,そこでは,二次元イメージングセンサのシャッタ速度を10μsオーダーで動作させた。提案した光源は,従来の離散周波数掃引レーザの1kHzオーダーで制限されたSRR,これは二次元シングルショット擬似コム干渉法には適切でない,を克服することができる。約200GHzの周波数ステップと29kHzのSRRを持つ提案した光源を実証し,数十mmの2次元シングルショット工業用形状測定とトモグラフィーの軸方向範囲拡大の有効性を示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *レーザ干渉計 ,  *周波数 ,  速度 ,  離散系 ,  二次元 ,  *形状測定 ,  *トモグラフィー
準シソーラス用語： 繰返し速度 ,  *周波数コム ,  周波数掃引

分類 (2件)： レーザの応用  (BD04100V) ,  干渉測定と干渉計  (BD07070G)

引用文献 (33件)：

• E. A. Swanson, D. Huang, M. R. Hee, J. G. Fujimoto, C. P. Lin, and C. A. Puliafito, Opt. Lett. 17, 151 (1992).
• M. D. Duncan, M. Bashkansky, and J. Reintjes, Opt. Express 2, 540 (1998).
• L. Vabre, V. Loriette, A. Dubois, J. Moreau, and A. C. Boccara, Opt. Lett. 27, 1899 (2002).
• R. Leitgeb, M. Wojtkowski, A. Kowalczyk, C. K. Hitzenberger, M. Sticker, and A. F. Fercher, Opt. Lett. 25, 820 (2000).
• S. R. Chinn, E. A. Swanson, and J. G. Fujimoto, Opt. Lett. 22, 340 (1997).

タイトルに関連する用語 (7件)： ショット ,  擬似 ,  コム ,  干渉計 ,  周波数掃引 ,  レーザ ,  開発