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J-GLOBAL ID：201902223274307052   整理番号：19A1762609

AA6061のフラックス制限TIG溶接における深さ対幅比に及ぼすフラックスとフラックスギャップの性質の影響:実験と数値シミュレーション【JST・京大機械翻訳】

Effect of Nature of Flux and Flux Gap on the Depth-to-Width Ratio in Flux-Bounded TIG Welding of AA6061: Experiments and Numerical Simulations

著者 (6件)： Neethu N. (Department of Aerospace Engineering, Indian Institute of Space Science and Technology, Trivandrum, India) ,  Togita Rahul Goud (Department of Aerospace Engineering, Indian Institute of Space Science and Technology, Trivandrum, India) ,  Neelima P. (Department of Chemistry, Indian Institute of Space Science and Technology, Trivandrum, India) ,  Chakravarthy P. (Department of Aerospace Engineering, Indian Institute of Space Science and Technology, Trivandrum, India) ,  Narayana Murty S. V. S. (Materials and Metallurgy Group, Vikram Sarabhai Space Centre, Trivandrum, India) ,  Nair Manoj T. (Department of Aerospace Engineering, Indian Institute of Space Science and Technology, Trivandrum, India)
資料名： Transactions of the Indian Institute of Metals  (Transactions of the Indian Institute of Metals)
巻： 72  号： 6  ページ： 1585-1588  発行年： 2019年 
JST資料番号： E0277A  ISSN： 0972-2815  CODEN： TIIMA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： フラックス制限タングステン不活性ガス溶接は,溶接線に沿った狭い磁束ギャップを有する溶接表面に活性化フラックスを適用する活性化タングステン不活性ガス溶接の変種である。本研究では,二酸化ケイ素,二酸化チタンおよびフッ化カルシウムを用いて,2,3,4,5および6mmのフラックスギャップを用いて,ビード-オン-プレート溶接を行った。溶接ビードプロファイルを,深さ対幅比(DWRs)を計算し,タングステン不活性ガス溶接板のDWRと比較した立体顕微鏡を用いて得た。DWRにおける差異の理由を,関連する機構と溶接アークプロファイルの捕捉画像を用いて説明した。溶接ビードの微細構造はフラックス粒子の捕捉を示さなかった。活性化フラックスの存在下でのDWRの増加も数値シミュレーションモデルを用いて実証した。Copyright 2019 The Indian Institute of Metals - IIM Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *溶接 ,  磁束 ,  微細構造 ,  タングステン ,  ガス溶接 ,  電流 ,  捕獲 ,  *TIG溶接 ,  不活性ガス ,  画像 ,  二酸化ケイ素
準シソーラス用語： 二酸化チタン ,  *数値シミュレーション ,  *AA6061 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： FBTIG溶接 ,  浸透深度 ,  フラックスの活性化 ,  Marangoni対流電流 ,  数値シミュレーション

分類 (2件)： 変態組織,加工組織  (WB01030N) ,  機械的性質  (WB02030U)

タイトルに関連する用語 (8件)： AA6061 ,  フラックス ,  制限 ,  TIG溶接 ,  ギャップ ,  性質 ,  実験 ,  数値シミュレーション