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J-GLOBAL ID：201902225226189993   整理番号：19A0128621

磁気力顕微鏡を用いた非磁性金属薄膜の検出【JST・京大機械翻訳】

Detection of nonmagnetic metal thin film using magnetic force microscopy

著者 (5件)： Wakaya Fujio (Center for Science and Technology Under Extreme Conditions, Graduate School of Engineering Science, Osaka University, 1-3 Machikaneyama, Toyonaka, Osaka 560-8531, Japan) ,  Oosawa Kenta (Center for Science and Technology Under Extreme Conditions, Graduate School of Engineering Science, Osaka University, 1-3 Machikaneyama, Toyonaka, Osaka 560-8531, Japan) ,  Kajiwara Masahiro (Center for Science and Technology Under Extreme Conditions, Graduate School of Engineering Science, Osaka University, 1-3 Machikaneyama, Toyonaka, Osaka 560-8531, Japan) ,  Abo Satoshi (Center for Science and Technology Under Extreme Conditions, Graduate School of Engineering Science, Osaka University, 1-3 Machikaneyama, Toyonaka, Osaka 560-8531, Japan) ,  Takai Mikio (Center for Science and Technology Under Extreme Conditions, Graduate School of Engineering Science, Osaka University, 1-3 Machikaneyama, Toyonaka, Osaka 560-8531, Japan)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 113  号： 26  ページ： 261601-261601-4  発行年： 2018年 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 磁気力顕微鏡(MFM)は,磁性材料の周りの漂遊磁場の検出とこれらの場の二次元可視化を可能にする。本論文は,非磁性金属の薄膜上のMFMチップの振動の理論的解析を提示した。結果は,先端高さを変えて得た実験データと良く一致した。ここで解析した現象は,ナノメートルスケールでの「金属検出器」として,またシート抵抗率の非接触測定のために適用できる。検出感度は発振周波数の関数として得られ,位相シフト測定のための最良周波数の決定を可能にした。非磁性金属の存在による共振周波数のシフトも議論した。Copyright 2019 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *磁気力顕微鏡 ,  非接触測定 ,  可視化 ,  *薄膜 ,  *金属薄膜 ,  シート抵抗 ,  共振周波数 ,  二次元 ,  位相シフト ,  磁性材料
準シソーラス用語： 発振周波数 ,  検出能 ,  *非磁性金属 ,  漂遊磁場 ,  *非磁性 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 金属結晶の磁性  (BM06040T) ,  金属薄膜  (BK14030T) ,  金属の磁区及び磁化過程  (BM06112D) ,  磁性一般  (BM06010M) ,  電子・磁気・光学記録  (NC06020F)

タイトルに関連する用語 (3件)： 磁気力顕微鏡 ,  非磁性 ,  金属薄膜