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J-GLOBAL ID:201902225405658539   整理番号:19A1607255

パッケージにおける自己および相互インダクタンスを分離するためのスイッチング速度およびTDR測定に対する相互インダクタンスの影響【JST・京大機械翻訳】

Mutual inductance influence to switching speed and TDR measurements for separating self- and mutual inductances in the package
著者 (3件):
資料名:
巻: 2019  号: ISPSD  ページ: 503-506  発行年: 2019年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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パワー半導体パッケージにおける寄生インダクタンスはデバイスのスイッチング速度に影響する。ソース端子の自己インダクタンスはスイッチング速度を制限する主要因であると考えられているが,3端子間の相互インダクタンスも速度に影響する。本論文では,スイッチング速度の限界を明らかにする時間領域反射測定(TDR)と時間領域透過測定(TDT)を用いて,パッケージ内のソース自己インダクタンスと相互インダクタンスを測定する方法を提案した。測定結果はQ3Dシミュレーションの結果と良く一致した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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図形・画像処理一般 
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