Kirkpatrick-Baez顕微鏡を用いたレーザプラズマ加速器X線源サイズの特性化【JST・京大機械翻訳】

Shazad M.; Reid L. R.; Spesyvtsev R.; Maitrallain A.; Holt G. K.; Zeraouli G.; Li W.; Vieux G.; Brunetti E.; Wiggins S. M.; Gatti G.; De Luis D.; Volpe L.; Fedosejevs R.; Jaroszynski D. A.

文献

J-GLOBAL ID：201902226131084211 整理番号：19A2603111

Kirkpatrick-Baez顕微鏡を用いたレーザプラズマ加速器X線源サイズの特性化【JST・京大機械翻訳】

Characterisation of a laser plasma accelerator x-ray source size using a Kirkpatrick-Baez microscope

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資料名：
巻： 11036 ページ： 110360Q-7 発行年： 2019年
JST資料番号： D0943A ISSN： 0277-786X CODEN： PSISDG 資料種別：会議録 (C)
記事区分：短報発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

レーザプラズマ加速器は非常に汎用性があり,独特の特性を持つ放射線と粒子ビームの両方の源である。レーザ航跡場加速器(LWFA)を用いて,ソフトとハードX線の両方を製造するために,応用に基づくプラズマ加速器(SCAPA)40TWと350TWレーザのためのスコットランドセンターを用いた。これらのフェムト秒パルスX線の固有の特性は,それらをプローブ物質と超高速イメージング応用に理想的にする。SCAPA施設におけるレーザプラズマ加速器の応用の開発を支援するために,調整可能なKirkpatrick-Baez X線顕微鏡を設計し,50eV-10KeVのX線を集束した。現在,X線光学に用いることができるシリコンウエハ基板で高品質を製造することが可能である。白金被覆(40nm)シリコンウエハをKB装置に使用し,LWFAX線源を画像化した。X線源サイズを決定するための研究の一部としてソース分布をシミュレートし,したがって,その横コヒーレンスと最終的にピーク輝度を決定した。OASYS SHAODOW-OUI光線追跡と波動伝搬コードを用いて,撮像装置をシミュレートし,装置分解能を決定した。COPYRIGHT SPIE. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

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X線技術 , 固体デバイス製造技術一般

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