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J-GLOBAL ID：201902226929603515   整理番号：19A1754170

Cu_1-_x(In_0.7Ga_0.3)Se_2(0≦x≦0.30)黄銅鉱固溶体における欠陥構造と光生成キャリア損失過程【JST・京大機械翻訳】

Defect Structure and Photogenerated Carrier Loss Processes in Cu_{1 - x} (In_0.7Ga_0.3)Se₂ (0 ≦ x ≦ 0.30) Chalcopyrite Solid Solutions

著者 (6件)： Gapanovich M. V. (Institute of Problems of Chemical Physics, Russian Academy of Sciences, Chernogolovka, Moscow oblast, Russia) ,  Odin I. N. (Moscow State University, Moscow, Russia) ,  Rabenok E. V. (Institute of Problems of Chemical Physics, Russian Academy of Sciences, Chernogolovka, Moscow oblast, Russia) ,  Orishina P. S. (Moscow State University, Moscow, Russia) ,  Novikov G. F. (Institute of Problems of Chemical Physics, Russian Academy of Sciences, Chernogolovka, Moscow oblast, Russia) ,  Novikov G. F. (Moscow State University, Moscow, Russia)
資料名： Inorganic Materials  (Inorganic Materials)
巻： 55  号： 7  ページ： 648-652  発行年： 2019年 
JST資料番号： A1063A  ISSN： 0020-1685  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 黄銅鉱構造を持つCu_1-_x(In_0.7Ga_0.3)Se_2(0≦x≦0.30)銅欠乏固溶体を合成し,それらの単位胞パラメータを組成の関数として決定した。それらの78-K陰極線ルミネセンススペクトルは,1.13eVに中心を持つバンドを示し,それはCu2+のV_Cu欠陥に関連している可能性が最も高い。マイクロ波光伝導データは,欠陥が電子トラップとして作用し,光発生電流キャリアの寿命をかなり減少させることを実証した。Copyright 2019 Pleiades Publishing, Ltd. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： マイクロ波 ,  *光生成 ,  *黄銅鉱 ,  光伝導 ,  *固溶体 ,  電流 ,  発光スペクトル
準シソーラス用語： 単位格子 ,  *欠陥構造 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： 銅欠乏固溶体 ,  黄銅鉱構造 ,  単位セルパラメータ ,  カソードルミネッセンス ,  マイクロ波光伝導 ,  光生成電流キャリア

分類 (2件)： 光伝導,光起電力  (BM03050J) ,  太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (7件)： 黄銅鉱 ,  固溶体 ,  欠陥構造 ,  光生成 ,  キャリア ,  損失 ,  過程