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J-GLOBAL ID:201902227392880241   整理番号:19A1381452

DCストレス下のコーン型絶縁体の電荷分布とフラッシュオーバ電圧に影響する表面被覆【JST・京大機械翻訳】

Surface coating affecting charge distribution and flashover voltage of cone-type insulator under DC stress
著者 (3件):
資料名:
巻: 26  号:ページ: 706-713  発行年: 2019年 
JST資料番号: W0578A  ISSN: 1070-9878  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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ガス絶縁線(GIL)絶縁体の寸法を縮小し,超高電圧(UHV)におけるそれらの信頼性を改善するために,絶縁体のフラッシュオーバ電圧を上げるためにかなりの研究が行われている。通常,不均一電場分布はフラッシュオーバを引き起こす重要な因子である。ACとインパルス電圧の下で,誘電率(ε-FGM)の空間分布を有する傾斜機能材料(FGM)の応用は有効な解決策であることが示されている。しかし,DCでは,電場分布は誘電体の伝導率だけでなく,表面上の電荷分布にも依存する。円錐型絶縁体に基づいて,本論文では,空気中のエポキシ(EP)/グラフェン(GR)被覆碍子の表面電荷蓄積とDCフラッシュオーバについて報告した。異なる充填剤量のEP/GR被覆碍子を調製し,それらの表面電荷蓄積とフラッシュオーバ特性を試験した。結果は,均一に分布したホモポーラ表面電荷がピーク電場の低減に役立ち,それによりフラッシオーバ電圧を上昇させることを示した。0.1%EP/GR複合材料は最も遅い表面電位減衰過程を有していた。従って,0.1%被覆絶縁体は,他のEP/GR被覆絶縁体と非被覆絶縁体の中で最高のフラッシュオーバ電圧を有していた。ワイヤ型金属粒子によって引き起こされたバイポーラ表面電荷領域は電場分布を歪める。0.1%被覆絶縁体のフラッシュオーバは,ワイヤ型粒子が表面に付着するとき,非被覆絶縁体より低い電圧で発生する。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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JSTが定めた文献の分類名称とコードです
気体放電  ,  絶縁材料 

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