Mukherjee Smita について
Advanced Mechanical and Material Characterization Division, CSIR-Central Glass and Ceramic Research Institute, India について
Das Pradip Sekhar について
Advanced Mechanical and Material Characterization Division, CSIR-Central Glass and Ceramic Research Institute, India について
Choudhuri Madhumita について
Surface Physics and Material Science Division, Saha Institute of Nuclear Physics, India について
Datta Alokmay について
Surface Physics and Material Science Division, Saha Institute of Nuclear Physics, India について
Ghosh Jiten について
Advanced Mechanical and Material Characterization Division, CSIR-Central Glass and Ceramic Research Institute, India について
Saha Biswajit について
Institute of Engineering and Management, India について
Koshmak Konstantin について
IOM CNR Laboratorio TASC, Elettra Synchrotron, Trieste, Italy について
Nannarone Stefano について
IOM CNR Laboratorio TASC, Elettra Synchrotron, Trieste, Italy について
Mukhopadhyay Anoop Kr. について
Advanced Mechanical and Material Characterization Division, CSIR-Central Glass and Ceramic Research Institute, India について
Journal of Physical Chemistry C について
界面活性剤 について
単分子層 について
表面積 について
界面 について
スピンコーティング について
金 について
二次元 について
X線回折 について
吸収端 について
パターン形成 について
半導体 について
偏光解析法 について
バンドギャップ について
二酸化チタン について
金ナノ粒子 について
半導体結晶の電子構造 について
光化学一般 について
塩基,金属酸化物 について
金ナノ粒子 について
界面活性剤 について
閉込め について
パターン形成 について
二酸化チタン薄膜 について
バンド について
ギャップ調整 について