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J-GLOBAL ID：201902228663706611   整理番号：19A1487432

オンウエハ標準としてSchottkyダイオードを用いたサブミリ波における1ポートネットワークの電子較正【JST・京大機械翻訳】

Electronic Calibration of One-Port Networks at Submillimeter Wavelengths using Schottky Diodes as On-Wafer Standards

著者 (8件)： Xie Linli (University of Virginia, Charlottesville, VA, USA) ,  Bauwens Matthew F. (Dominion MicroProbes Inc., Charlottesville, VA, USA) ,  Nadri Souheil (University of Virginia, Charlottesville, VA, USA) ,  Cyberey Michael E. (University of Virginia, Charlottesville, VA, USA) ,  Arsenovic Alexander (810 Labs LLC, Stanardsville, VA, USA) ,  Lichtenberger Arthur W. (University of Virginia, Charlottesville, VA, USA) ,  Barker N. Scott (University of Virginia, Charlottesville, VA, USA) ,  Weikle Robert M. (University of Virginia, Charlottesville, VA, USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019  号： ARFTG  ページ： 1-4  発行年： 2019年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： サブミリメータ波長での1ポートオンウエハ電子キャリブレーションのためのアプローチを記述した。シリコン上に集積した準垂直GaAs Schottkyダイオードを電子キャリブレーション標準として用いた。ダイオード標準のSパラメータを,バイアスの関数としてWM-570(325~500GHz)バンド上で特性化し,その後,1ポート較正の標準として用いた。ダイオード標準を用いて導出した誤差係数の比較は,コプレーナ遅延短絡回路からなる標準の従来のセットから得られたものと良く一致することを示した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *ダイオード ,  ケイ素 ,  キャラクタリゼーション ,  *Schottky障壁ダイオード ,  *サブミリ波 ,  ヒ化ガリウム ,  バイアス ,  *ポート
準シソーラス用語： Sパラメータ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (6件)： 標準 ,  Schottkyダイオード ,  サブミリ波 ,  ポート ,  電子 ,  較正