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J-GLOBAL ID:201902228781809877   整理番号:19A1423504

光遺伝学による下側頭皮質における反復抑制機構の探索【JST・京大機械翻訳】

Probing the Mechanisms of Repetition Suppression in Inferior Temporal Cortex with Optogenetics
著者 (15件):
資料名:
巻: 29  号: 12  ページ: 1988-1998.e4  発行年: 2019年 
JST資料番号: W0287A  ISSN: 0960-9822  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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サル下側側頭葉(IT)皮質のニューロンは,反復抑制(RS)として知られる刺激反復による応答の減少を示す。いくつかの機構は,発火率依存性疲労およびシナプス抑制のようなITにおけるRSの一因となる可能性があり,同じ領域内または上方または下流領域におけるニューロンからの入力を減少させるように思われる。著者らは,光遺伝学を用いて直接ITニューロンを刺激することにより,発火率疲労と経シナプス機構の役割を調べ,視覚刺激に対するRSをもたらすタイミングパラメータを用いて,それらの応答に及ぼす光刺激の影響を測定した。ITニューロンの光刺激により,その後の光刺激またはその後の低コントラスト視覚刺激に対するスパイキング活性の確率がわずかに低下した。この応答低下は反復視覚刺激に対するそれに比べて小さく,アダプタと試験刺激間の間隔の間の活性の刺激後阻害に関連した。視覚アダプタの提示は,その後の光刺激に対する応答を変化させなかった。視覚アダプタに対する応答が同時光刺激により阻害されるニューロンにおいて,視覚刺激に対するRSは影響を受けなかった。全体として,これらのデータは,ITにおけるRSが,内因性発火率疲労の寄与がほとんどないか否かにより,経シナプス起源を有することを意味する。加えて,それらは局所シナプス抑制の限定された寄与と近傍ITニューロンからの入力の減少を示唆し,その応答はITにおけるRSへの発火率疲労により減少すると仮定された。Copyright 2019 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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中枢神経系 
タイトルに関連する用語 (4件):
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