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J-GLOBAL ID：201902229043456073   整理番号：19A1604763

改良レイアウトトポロジーに基づく電流ステアリングDACの線形性最適化【JST・京大機械翻訳】

Linearity optimization of current steering DAC based on improved layout topology

著者 (3件)： Tong Xingyuan (School of Electronics Engineering, Xi’an University of Posts and Telecommunications, Xi’an, China) ,  Wang Chaofeng (School of Electronics Engineering, Xi’an University of Posts and Telecommunications, Xi’an, China) ,  Wang Fengjuan (School of Automation and Information Engineering, Xi’an University of Technology, Xi’an, China)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019  号： EDSSC  ページ： 1-3  発行年： 2019年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電流ステアリングDACの線形性に及ぼす電流不整合の影響を理論的に検討した。電流不整合の二次誤差を低減できるQ2ランダムウォーク方式を,DACの線形性を最適化するために利用した。0.18μm CMOSで10ビットDACを実現した。測定結果は,DACの微分非線形性(DNL)と積分非線形性(INL)が0.71LSBと1.02LSBであることを示した。500MS/sのサンプリングレートと1.465MHzの入力周波数で,スプリアスフリーダイナミックレンジ(SFDR)とビットの有効数(ENOB)は,それぞれ65.6dBと9.2ビットである。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *電流 ,  不整合 ,  CMOS ,  *最適化 ,  *線形性 ,  酔歩
準シソーラス用語： ENOB ,  SFDR ,  サンプリング速度 ,  *電流ステアリング , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 電流ステアリング ,  DAC ,  線形性 ,  最適化