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J-GLOBAL ID:201902229275814836   整理番号:19A1415998

周期変調エレクトロルミネセンスを用いた自己スケーリング少数キャリア寿命イメージング【JST・京大機械翻訳】

Self-scaling minority carrier lifetime imaging using periodically modulated electroluminescence
著者 (3件):
資料名:
巻: 122  号: 18  ページ: 183105-183105-7  発行年: 2017年 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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周期変調エレクトロルミネセンスを用いて,シリコン太陽電池の有効少数キャリア寿命画像を抽出するための簡単な自己スケーリング画像技術を示した。この新しい変調技術はカメラ集積時間にリンクする主な制限因子を克服する。この方法は,電流変調の間に取られた三つのルミネセンス画像を比較することに基づいている。パルス電流刺激により過剰電荷キャリアを周期的に注入し,続いて開回路ルミネセンスを減衰させて,一つの画像を撮影した。同じ注入プロフィルをもつ第二の画像を取り上げ,一方,下降端で過剰電荷キャリアを抽出し,ルミネセンス減衰を加速した。両画像を定常状態画像に正規化した。カメラ積分時間は変調周期長よりも数桁長く,画像取得の同期化は不要である。両方の変調画像間の強度差を用いて,定常状態画像を有効少数キャリア寿命画像に変換するキャリブレーション因子を決定した。この変調法は,画像積分時間に完全に独立したキャリア寿命画像を可能にした。最初のキャリア寿命画像は時間分解エレクトロルミネセンスからのデータと良く一致した。Copyright 2019 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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半導体と絶縁体の電気伝導一般  ,  半導体のルミネセンス 

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