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J-GLOBAL ID：201902231064619943   整理番号：19A0661107

Janus単分子層遷移金属ジカルコゲナイド【JST・京大機械翻訳】

Janus Monolayer Transition-Metal Dichalcogenides

著者 (11件)： Zhang Jing (Department of Materials Science and Nanoengineering, Rice University, Texas, United States) ,  Jia Shuai (Department of Materials Science and Nanoengineering, Rice University, Texas, United States) ,  Kholmanov Iskandar (Department of Mechanical Engineering, The University of Texas at Austin, Texas, United States) ,  Dong Liang (Department of Materials Science and Engineering, University of Pennsylvania, Pennsylvania, United States) ,  Er Dequan (Department of Materials Science and Engineering, University of Pennsylvania, Pennsylvania, United States) ,  Chen Weibing (Department of Materials Science and Nanoengineering, Rice University, Texas, United States) ,  Guo Hua (Department of Materials Science and Nanoengineering, Rice University, Texas, United States) ,  Jin Zehua (Department of Materials Science and Nanoengineering, Rice University, Texas, United States) ,  Shenoy Vivek B. (Department of Materials Science and Engineering, University of Pennsylvania, Pennsylvania, United States) ,  Shi Li (Department of Mechanical Engineering, The University of Texas at Austin, Texas, United States) ,  Lou Jun (Department of Materials Science and Nanoengineering, Rice University, Texas, United States)
資料名： ACS Nano  (ACS Nano)
巻： 11  号： 8  ページ： 8192-8198  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2326A  ISSN： 1936-0851  CODEN： ANCAC3  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,単分子層限界におけるサンドイッチS-Mo-Se構造(Janus SMoSe)の結晶構造を合成し,注意深く特性化した。単分子層MoSe_2の制御された硫化により,セレン原子の最上層は硫黄原子により置換され,一方,底セレン層は無傷のままである。この材料の構造をRaman,光ルミネセンス,透過型電子顕微鏡,X線光電子分光法により系統的に調べ,飛行時間二次イオン質量分析により確認した。密度汎関数理論(DFT)計算を行い,JanusSMoSe単分子層のRaman振動モードと電子構造をより良く理解し,対応する実験結果と良く相関することを見出した。最後に,高い基底面水素発生反応活性がJanus単分子層に対して発見され,DFT計算は活性がJanus構造に固有の固有欠陥と構造歪の相乗効果に由来することを意味する。Copyright 2019 American Chemical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 透過型電子顕微鏡 ,  相乗作用 ,  X線光電子分光法 ,  *単分子層 ,  電子構造 ,  振動モード ,  結晶構造 ,  硫化 ,  キャラクタリゼーション ,  密度汎関数法 ,  水素発生反応 ,  セレン ,  電子顕微鏡観察 ,  光ルミネセンス
準シソーラス用語： 固有欠陥 ,  Janus , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： Janusスモース ,  硫化 ,  Raman ,  TOF-SIMS ,  HER

分類 (3件)： 半導体の赤外スペクトル及びRaman散乱・Ramanスペクトル  (BM08066B) ,  無機化合物の赤外・Ramanスペクトル(分子)  (BH06032B) ,  無機化合物の赤外スペクトル及びRaman散乱,Ramanスペクトル  (BM08063C)

タイトルに関連する用語 (2件)： 単分子層 ,  遷移金属ジカルコゲナイド