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J-GLOBAL ID：201902231390490634   整理番号：19A0527722

フッ素化HVDCケーブル付属品のトラップ依存界面電荷挙動【JST・京大機械翻訳】

Trap dependent interface charge behaviors of fluorinated HVDC cable accessories

著者 (7件)： Han Chenlei (School of Electrical and Information Engineering, Tianjin University) ,  Du Boxue (School of Electrical and Information Engineering, Tianjin University) ,  Li Jin (School of Electrical and Information Engineering, Tianjin University) ,  Han Tao (School of Electrical and Information Engineering, Tianjin University) ,  Li Xiaolong (School of Electrical Engineering, Shenyang University of Technology) ,  Liu Yong (School of Electrical and Information Engineering, Tianjin University) ,  Liu Shiyu (School of Electrical and Information Engineering, Tianjin University)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ISEIM  ページ： 621-624  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 界面電荷は二つの異なる誘電材料間に蓄積する可能性があり,絶縁システムの劣化を加速させる可能性がある。エチレン-プロピレン-ジエン三元共重合体(EPDM)は主にHVDCケーブル継手に使用され,それはケーブル絶縁と付属品で構成される界面があるため,ケーブルシステムの最も脆弱な部分である。直接フッ素化は,高分子絶縁の電気的および化学的性質を調整するために適用できる。したがって,本研究では,二層絶縁システムにおける界面電荷挙動に及ぼす直接フッ素化の影響を調べた。EPDM試料を0,15,30および60分間フッ素化し,LDPEをそれぞれ0および30分間フッ素化した。界面電荷分布を20kV/mmの下で測定した。得られた結果は,界面における空間電荷極性がEPDM試料に適用された電圧と一致することを示し,Maxwell-Wagner-Sillars(MWS)理論により検証できた。30分のフッ素化は界面電荷蓄積をより効果的に抑制できる。しかし,長時間のフッ素化は界面電荷の顕著な蓄積を引き起こす。界面電荷の蓄積過程は,時間定数だけでなく,フッ素化時間によって制御される表面状態とトラップ分布に依存する。結果として,近似的直接フッ素化は,界面電荷蓄積を有効に抑制し,ケーブル付属性能の改善のための可能な方法を提供することができる。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 誘電材料 ,  電圧 ,  *ケーブル ,  極性 ,  *フッ素化 ,  *界面 ,  近似法 ,  低密度ポリエチレン ,  空間電荷 ,  EPDM ,  高分子
準シソーラス用語： 二層 ,  ケーブル絶縁 ,  *界面電荷 ,  *HVDC , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (7件)： フッ素化 ,  HVDC ,  ケーブル ,  付属品 ,  トラップ ,  界面電荷 ,  挙動