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J-GLOBAL ID：201902231764201372   整理番号：19A2604279

宇宙応用のための光学部品により散乱された光の解析と制御【JST・京大機械翻訳】

Analysis and control of light scattered by optical components for space applications

著者 (3件)： Zerrad M. (Institut Fresnel (France)) ,  Lequime M. (Institut Fresnel (France)) ,  Amra C. (Institut Fresnel (France))
資料名： Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)
巻： 11180  ページ： 1118086-12  発行年： 2019年 
JST資料番号： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 宇宙応用には,ますます多くの要求される光学機能が必要である。この発展により,散乱レベル,粗さ,局在欠陥,性能のスペクトル発展,コヒーレント後方散乱などの観点から,極端な性能をもつ光学部品の新しい発生の開発がもたらされた。この文脈において,宇宙応用のために生成された光学部品は,極端な仕様を持つ複雑さの増加を示す。結果として,この成分の生成に特異的な新しい問題が出現し,これらの間で,これらの成分によって散乱された光の管理は重要な課題のままである。例えば,複雑な光学被覆(典型的には100以上の界面を有する)に対しては,単純な被覆(40層以下)の場合には,成分の散乱応答は基板スペクトルと直接相関しない。この理由のために,複雑な光学被覆によって散乱された光の正確なモデル化には,設計と製造から構成要素の使用条件への異なるパラメータを考慮に入れた全体的な解析が必要である。本論文では,宇宙応用のための複雑な光学部品によって散乱された光のモデリングと計測のために,研究所Fresnelの散乱グループによって行われた最後の開発について述べる。地球観測と高性能鏡用の狭帯域フィルタについて行われた最近の研究に特別な注意を払う。これらの応用の各々について,特定の問題点と対応する課題を提示し,実験的および数値的結果を詳述した。計測とモデリングの間の一致を強調した。COPYRIGHT SPIE. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *宇宙空間 ,  *散乱 ,  スペクトル ,  コヒーレンス ,  界面 ,  被覆 ,  モデリング ,  後方散乱
準シソーラス用語： 狭帯域フィルタ ,  地球観測 ,  光学被覆 ,  *光学部品 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： セラミック・陶磁器の製造  (YC03020V) ,  宇宙飛行体  (QK08000Y) ,  光デバイス一般  (BD06010L)

タイトルに関連する用語 (5件)： 宇宙 ,  応用 ,  光学部品 ,  散乱 ,  解析