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J-GLOBAL ID：201902232452229076   整理番号：19A0098692

Rh上のNO吸着のシンクロトロン放射X線光電子分光法によるキャラクタリゼーション

Characterization by Synchrotron-Radiation X-Ray Photoelectron Spectroscopy of NO Adsorption on Rh

著者 (6件)： Koda Yuki (Graduate School of Science, Hiroshima University) ,  Koda Yuki (Technical Research Center, Mazda Motor Corporation) ,  Sumida Hirosuke (Technical Research Center, Mazda Motor Corporation) ,  Ogawa Satoshi (Department of Materials, Physics and Energy Engineering, Graduate School of Engineering, Nagoya University) ,  Tsukada Chie (Materials Sciences Research Center, Sector of Nuclear Science Research, Japan Atomic Energy Agency) ,  Namatame Hirofumi (Synchrotron Radiation Center, Hiroshima University)
資料名： e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web)  (e-Journal of Surface Science and Nanotechnology (Web))
巻： 16  ページ： 36-40(J-STAGE)  発行年： 2018年 
JST資料番号： U0016A  ISSN： 1348-0391  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ロジウムナノ粒子をシリコンウエハ上に蒸着法により析出した。このプロセスは,愛知シンクロトロン放射センター(愛知SR)においてBL6N1の負荷ロックチャンバーに接続されたRh蒸発チャンバ中でHeガスを使用した。蒸発チャンバーにNOガスを導入し,堆積したRhナノ粒子を周囲空気の有る場合,無い場合でNOに曝露し,Rhナノ粒子の電子特性に及ぼすO₂の影響とシンクロトロン放射X線光電子分光法(SR-XPS)を用いたNO分子の挙動を研究した。Rhナノ粒子の直径は透過型電子顕微鏡で2.7±0.6nmと推定された。XPS分析は,NO曝露前の堆積したRhナノ粒子が金属状態にあることを示した。NOへの曝露後,Rhナノ粒子の最外側表面の一部はRh酸化物に変化し,NO分子,原子NおよびO種,およびNO₂が検出された。一方,周囲空気中のNOへの曝露後,Rhナノ粒子の表面は優先的に酸化された。さらに,いくつかのNO分子がRhの表面に吸着され,表面酸素と反応する少量の吸着NOがNO₂に変化した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *ロジウム ,  ナノ粒子 ,  *一酸化窒素 ,  *吸着 ,  シンクロトロン放射 ,  X線光電子スペクトル ,  *酸化 ,  酸化ロジウム ,  二酸化窒素 ,  酸素 ,  電子顕微鏡観察 ,  粒径
準シソーラス用語： *表面酸化 ,  透過型電子顕微鏡観察

著者キーワード (6件)： ロジウム ,  ナノ粒子 ,  透過型電子顕微鏡 ,  シンクロトロン放射X線光電子分光法 ,  酸化窒素 ,  酸化

分類 (2件)： その他の無触媒反応  (CB06070U) ,  物理的手法を用いた吸着の研究  (CB12043P)

引用文献 (20件)：

• [1] H. Muraki and G. Zhang, Catal. Today 63, 337 (2000). ( https://doi.org/10.1016/S0920-5861(00)00477-6 )
• [2] H. S. Gandhi, G. W. Graham, and R. W. McCabe, J. Catal. 216, 433 (2003). ( https://doi.org/10.1016/S0021-9517(02)00067-2 )
• [3] Q. Zheng, R. Farrauto, M. Deeba, and I. Valsamakis, Catalysts 5, 1770 (2015). ( https://doi.org/10.3390/catal5041770 )
• [4] M. Vallden, X. Lai, and D. W. Goodman, Science 281, 1647 (1998). ( https://doi.org/10.1126/science.281.5383.1647 )
• [5] M. Haruta, S. Tsubota, T. Kobayashi, H. Kageyama, M. J. Genet, and B. Delmon, J. Catal. 144, 175 (1993). ( https://doi.org/10.1006/jcat.1993.1322 )

タイトルに関連する用語 (6件)： Rh ,  NO ,  吸着 ,  シンクロトロン放射X線 ,  光電子分光法 ,  キャラクタリゼーション