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J-GLOBAL ID：201902233648574447   整理番号：19A2622301

一軸組織化高J_cBi-2223テープのフィラメント断面における結晶粒構造の可視化

Visualization of the grain structure in the filament cross sections of uniaxially textured high J_c Bi-2223 tapes

著者 (5件)： KAMETANI Fumitake (Florida State Univ., FL, USA) ,  OLOYE T. Abiola (Florida State Univ., FL, USA) ,  JIANG Jianyi (Florida State Univ., FL, USA) ,  OSABE Goro (Sumitomo Electric Ind. Ltd., Osaka, JPN) ,  KOBAYASHI Shinichi (Sumitomo Electric Ind. Ltd., Osaka, JPN)
資料名： Applied Physics Express  (Applied Physics Express)
巻： 12  号： 9  ページ： 093002.1-093002.5  発行年： 2019年09月 
JST資料番号： F0599C  ISSN： 1882-0778  CODEN： APEPC4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,平坦圧延(Bi,Pb)₂Sr₂Ca₂Cu₃O_x(Bi-2223)テープにおける結晶粒構造を可視化するために,電子後方散乱回折配向画像顕微鏡を広く用いた。熱機械的プロセスは,結晶粒のc軸をテープ表面に垂直に配向させた。臨界電流密度J_cにおける24%の差は,面外集合組織の程度における約5°の差によって引き起こされた。面内配向は制御されないが,Bi-2223結晶粒はドメインを形成し,その各々は類似の面内配向を持つ結晶粒から構成された。ドメイン形成を制御することは,Bi-2223テープのJ_cを上げるための次のプロトコルである。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *臨界電流密度 ,  *カルシウム化合物 ,  *ストロンチウム化合物 ,  *ビスマス化合物 ,  *酸化物 ,  *銅化合物 ,  テープ ,  *フィラメント ,  結晶粒 ,  可視化 ,  薄板圧延 ,  電子回折 ,  分域
準シソーラス用語： *超伝導臨界電流密度 ,  *Bi2223 ,  超伝導テープ ,  電子後方散乱回折

分類 (1件)： 超伝導材料  (BM04041W)

タイトルに関連する用語 (6件)： 一軸 ,  組織化 ,  テープ ,  フィラメント ,  結晶粒 ,  可視化