文献

J-GLOBAL ID：201902235400181695   整理番号：19A1998003

TOKASTAR-2におけるトカマクプラズマへのHe I線強度比法の適用

Application of He I Line Intensity Ratio Method to Tokamak Plasma in TOKASTAR-2

著者 (7件)： YOKOYAMA Ryoma (Graduate School of Engineering, Nagoya University) ,  OKAMOTO Atsushi (Graduate School of Engineering, Nagoya University) ,  FUJITA Takaaki (Graduate School of Engineering, Nagoya University) ,  ARIMOTO Hideki (Graduate School of Engineering, Nagoya University) ,  MINOURA Masato (Graduate School of Engineering, Nagoya University) ,  YASUDA Kohei (Graduate School of Engineering, Nagoya University) ,  YAMAUCHI Takahiro (Graduate School of Engineering, Nagoya University)
資料名： Plasma and Fusion Research (Web)  (Plasma and Fusion Research (Web))
巻： 13  ページ： 3402047(J-STAGE)  発行年： 2018年 
JST資料番号： U0045A  ISSN： 1880-6821  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： TOKASTAR-2トカマクプラズマにおける電子密度と温度の時間発展を,He I線強度比法により初めて得た。衝突放射モデルの計算において,放射トラッピングの効果と準安定状態に対する準定常状態近似の妥当性を考察した。検出器として光電子増倍管を持つモノクロメータを用いて,He I線強度を測定した。解析に用いた線強度比を評価するために,強度比のプラズマパラメータに対する感度因子を新たに導入した。オーム加熱の充電電圧V_OHを変えて,電子密度n_eと温度T_eのプラズマ電流I_p依存性を調べた。n_eはI_pに依存し,V_OHには依存しなかった。測定したT_eから求めたSpitzer抵抗は,I_p上最高時点でのプラズマ抵抗と一致した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *トカマク ,  *電子密度 ,  *電子温度 ,  *プラズマ ,  *スペクトル線強度 ,  *比率 ,  *スペクトロスコピー ,  *プラズマ分光 ,  *モデル ,  放射 ,  捕獲 ,  時間発展 ,  プラズマ加熱 ,  抵抗加熱 ,  *プラズマ電流 ,  *電気抵抗
準シソーラス用語： TOKASTAR-2 ,  *スペクトル線強度比法 ,  トカマクプラズマ ,  トラッピング ,  プラズマOhm加熱 ,  *プラズマ抵抗 ,  ヘリウムプラズマ ,  *衝突放射モデル ,  比 ,  分光法 ,  放射トラッピング

著者キーワード (5件)： TOKASTAR-2 ,  He I線強度比法 ,  CRモデル ,  放射トラッピング ,  トカマクプラズマ

分類 (2件)： プラズマ診断  (BJ02090L) ,  核融合装置  (BJ02083Z)

引用文献 (6件)：

• [1] T. Oishi et al., J. Plasma Fusion Res. SERIES 9, 69 (2010).
• [2] T. Fujimoto, J. Quant. Spectrosc. Radiat. Transf. 21, 439 (1979).
• [3] M. Goto, J. Quant. Spectrosc. Radiat. Transf. 76, 331 (2003).
• [4] B. Schweer et al., J. Nucl. Mater. 196-198, 174 (1992).
• [5] H. Takahashi et al., Contrib. Plasma Phys. 57, 322 (2017).

タイトルに関連する用語 (2件)： He ,  強度比