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J-GLOBAL ID：201902236422574657   整理番号：19A0384504

解離イオン同時計測電子エネルギー損失分光を用いた分子座標系における電子散乱断面積の測定

著者 (2件)： 渡邉昇 (東北大 多元物質科研) ,  高橋正彦 (東北大 多元物質科研)
資料名： しょうとつ(Web)  (Journal of Atomic Collision Research (Web))
巻： 16  号： 1  ページ： 4-18 (WEB ONLY)  発行年： 2019年01月15日 
JST資料番号： U0603A  ISSN： 2436-1070  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 高速電子の非弾性散乱実験である電子エネルギー損失分光EELSは,分子の電子構造や電子励起過程を調べる上で強力な実験手法である。しかしながら,標的気体分子のランダムな空間配向により実験結果は分子方向について平均化されてしまい,標的波動関数の形状異方性や電子-分子立体衝突ダイナミクスに関する情報が失われていた。我々は非弾性散乱電子と解離イオンの同時計測により,電子衝突時における分子軸方向を特定した上で電子散乱断面積を測定する解離イオン同時計測EELS法の開発を進めてきた。本稿では,製作した分光装置と測定原理について解説するとともに,N₂分子を対象とした実験結果について議論する。(著者抄録)

シソーラス用語： *電子エネルギー損失分光法 ,  波動関数 ,  電子構造 ,  *分子-電子衝突 ,  *微分断面積 ,  *イオン化 ,  *解離 ,  *同時計測 ,  非弾性散乱 ,  電子散乱 ,  分子構造 ,  内殻励起 ,  角分布 ,  運動量移動 ,  データ収集システム ,  電子励起 ,  イオンスペクトロメータ ,  *軸方向 ,  気体分子 ,  空間配置 ,  形状異方性 ,  散乱断面積

分類 (2件)： 電子と分子の衝突・散乱  (BH07030A) ,  分子の電子構造  (BH05010Q)

引用文献 (44件)：

• M. Inokuti, Rev. Mod. Phys. 43, 297 (1971).
• K. T. Leung, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 100, 237 (1999), and references therein.
• A. P. Hitchcock, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 112, 9 (2000), and references therein.
• R. S. Barbieri and R. A. Bonham, Phys. Rev. A 45, 7929 (1992).
• N. Watanabe, D. Suzuki, and M. Takahashi, J. Chem. Phys. 134, 064307 (2011).

タイトルに関連する用語 (8件)： 解離 ,  イオン ,  同時計測 ,  電子エネルギー損失分光 ,  分子 ,  座標系 ,  電子 ,  散乱断面積