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J-GLOBAL ID：201902236540312859   整理番号：19A1370107

ベイズ最適化を用いた有機薄膜のマイクロビームGI-WAXSマッピング

著者 (4件)： 丸山伸伍 (東北大 大学院) ,  大内華奈 (東北大 大学院) ,  小金澤智之 (高輝度光科学研究セ) ,  松本祐司 (東北大 大学院)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 66th  ページ： ROMBUNNO.9p-W321-13  発行年： 2019年02月25日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2436-7613  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 【緒言】高強度の放射光X線を用いたX線回折は、結晶性や散乱強度の低い有機薄膜において有用である。しかし、有機薄膜でよく用いられる斜入射X線回折(GI-WAXS)測定は、基板の全反射となるようなすれすれの入射角度を用いて行うため、一般的にフッ...【本文一部表示】

シソーラス用語： 回帰分析 ,  *有機材料 ,  *X線回折 ,  写像 ,  ビーム ,  小角X線散乱 ,  *有機薄膜 ,  *放射光X線回折 ,  空間マッピング ,  X線マイクロビーム ,  斜入射小角X線散乱
準シソーラス用語： ベイズ回帰

分類 (2件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  数値計算  (JE02000J)

物質索引 (1件)： DNTT

タイトルに関連する用語 (6件)： ベイズ最適化 ,  有機薄膜 ,  マイクロビーム ,  GI ,  WAXS ,  マッピング