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J-GLOBAL ID：201902239247021823   整理番号：19A0510540

エルビウム添加ファイバ増幅器における雑音の理論解析【JST・京大機械翻訳】

Theoretical Analysis of Noise in Erbium Doped Fiber Amplifier

著者 (4件)： Setiawan Putra Alexander William (Department of Electronic Systems Engineering, Malaysia-Japan International Institute of Technology, Universiti Teknologi Malaysia, Kuala Lumpur, Malaysia) ,  Yamada Minoru (Department of Electronic Systems Engineering, Malaysia-Japan International Institute of Technology, Universiti Teknologi Malaysia, Kuala Lumpur, Malaysia) ,  Tsuda Hiroyuki (Department of Electronics and Electrical Engineering, Keio University, Tokyo, Japan) ,  Ambran Sumiaty (Department of Electronic Systems Engineering, Malaysia-Japan International Institute of Technology, Universiti Teknologi Malaysia, Kuala Lumpur, Malaysia)
資料名： IEEE Journal of Quantum Electronics  (IEEE Journal of Quantum Electronics)
巻： 53  号： 4  ページ： ROMBUNNO.5100108.1-8  発行年： 2017年 
JST資料番号： H0432A  ISSN： 0018-9197  CODEN： IEJQA7  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： エルビウムドープファイバ増幅器(EDFA)の雑音特性を理論的に解析し,実験的に検証した。四つの離散エネルギーモデルをエルビウムイオン遷移に用いた。進行する光場に対する空間的に変化する光子数を有限長さの空間分割セグメントにおいて定義し,その長さを自然放出の性質により決定した。このモデルによりLangevin雑音源の定量的評価が可能となる。増幅された自然放出は離散縦モードの項に含まれ,これはEDFAの全長に対して定義される。EDFAにおける相対強度雑音(RIN)は,数kHz以上の領域において雑音周波数によりほとんど変化しないことが分かった。EDFAの位相雑音も雑音周波数によりほとんど変化しなかった。EDFAにおける信号光の周波数雑音は,雑音周波数の二乗値に比例して増加する。RINの量と位相雑音は,より高い入力光パワーにおいて減少した。理論と実験結果の間の良好な対応が得られた。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 雑音発生器 ,  位相雑音 ,  雑音特性 ,  ASE【放射】 ,  *EDFA ,  縦モード ,  *雑音 ,  自然放出 ,  増幅器
準シソーラス用語： 周波数雑音 ,  相対強度雑音 ,  光子数 ,  エルビウムイオン(3+) ,  エルビウムドープファイバ ,  *理論解析 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 半導体レーザ  (BD04070L) ,  雑音一般  (ND04010J) ,  光通信方式・機器  (ND10000B) ,  光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H) ,  雑音理論  (ND04020U)

タイトルに関連する用語 (3件)： エルビウム添加ファイバ増幅器 ,  雑音 ,  理論解析