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J-GLOBAL ID:201902240296019545   整理番号:19A1706992

金属表面上の水素位置によるRHEED強度の変化【JST・京大機械翻訳】

Changes of RHEED intensity with hydrogen position on metal surface
著者 (4件):
資料名:
巻: 688  ページ: 7-13  発行年: 2019年 
JST資料番号: C0129B  ISSN: 0039-6028  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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多重散乱理論に基づいて,反射高エネルギー電子回折(RHEED)強度をH原子からの散乱を明示的に考慮してH吸着Ni(111)表面から計算した。ロッキング曲線と方位角プロットにおける系統的なRHEED強度変化は,表面の法線方向と平行方向の両方でH位置を変化させることによって得られる。ロッキング曲線において,ピークおよびディップ位置ならびにそれらの強度は,いくつかの回折条件下で明確に変化した。方位角プロットにおいて,ピーク幅はH高さの関数として系統的変化を示した。H深さの関数として表面下Hをもつ表面からRHEED強度の変化も得られた。H位置の関数としての強度変化は最上部Ni層の表面緩和の関数として異なる。結果は,RHEEDが金属表面上のHの構造情報を抽出するための有望なツールであることを示した。Copyright 2019 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (3件):
分類
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無機化合物一般及び元素  ,  半導体薄膜  ,  固-気界面一般 
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