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J-GLOBAL ID:201902240921640492   整理番号:19A1980340

外部電場下での架橋ポリエチレン誘電体材料の分子構造変化とその電気エージングミクロ機構研究【JST・京大機械翻訳】

Study on molecular structure change and micro-mechanism of electrical aging of XLPE dielectric materials under external electric fields
著者 (5件):
資料名:
巻: 36  号:ページ: 413-420  発行年: 2019年 
JST資料番号: C2079A  ISSN: 1000-0364  CODEN: YYFXEM  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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架橋ポリエチレン(XLPE)材料の電枝老化を微視的観点から解析するために,分子シミュレーション法を用いてXLPEの分子構造を計算した。ポリエチレン鎖に沿って異なる大きさの電界強度を印加し、架橋ポリエチレン分子の幾何構造、双極子モーメント、分極率、電荷分布、フロンティア軌道エネルギーと赤外スペクトルの変化法則を分析した。計算結果により、外部電場の増加に伴い、架橋ポリエチレンの分子赤外スペクトルが大きく変化し、外部電場が0.026a.uに達することが分かった。後、赤外スペクトル図に虚周波数が現れ、分子空間構造が安定でなく、切断結合が発生しやすいことを示した。また、フロンティア軌道図の変化から、切断結合現象が最初に架橋ポリエチレン鎖の端部に発生することが分かった。電場方向に沿って、原子が帯電した電荷量は架橋から端部へ転移し、外部電場は0.029a.uに達した。後,鎖端部のC-HとC-C結合開裂はH・とCH3・ラジカルを生成した。遊離ラジカルは空間電荷を形成し、蓄積し、局部的な大きな場強度を生じ、さらに架橋ポリエチレン鎖の空間構造に影響する。誘電体の内部ミクロ特性の変化は架橋ポリエチレン材料の絶縁性能の低下を招くが、これらの変化は架橋ポリエチレンケーブルの電樹枝形成の微視的規律を明らかにする上で重要な研究意義がある。Data from Wanfang. Translated by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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分子の電子構造 

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