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J-GLOBAL ID：201902241398186582   整理番号：19A1788266

可逆論理回路における故障モデルとテストアプローチ【JST・京大機械翻訳】

Fault Models and Test Approaches in Reversible Logic Circuits

著者 (4件)： Gaur H. M. (Department of Electronics & Communication Engineering, ABES Institute of Technology, Ghaziabad (Delhi NCR), India) ,  Sasamal T. N. (Department of Electronics and Communication Engineering, NIT, Kurukshetra, India) ,  Singh A. K. (Department of Electronics and Communication Engineering, NIT, Kurukshetra, India) ,  Mohan A. (Department of Electronics Engineering, IIT-BHU, Varanasi, India)
資料名： Lecture Notes in Electrical Engineering  (Lecture Notes in Electrical Engineering)
巻： 577  ページ： 153-167  発行年： 2020年 
JST資料番号： W5070A  ISSN： 1876-1100  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 可逆回路における操作は完全に制御可能で,それらの二つの特性により観察可能である。試験は2つの行動スキームに分類できる。(i)回路内の故障の検出がその動作中に行われるオンライン試験,(ii)試験ベクトルがその正常動作から回路を抽出した後に適用され,正しい出力値が知られている。スタックアット,ブリッジ,欠落ゲート,交差点,セル故障のような特定の種類の故障モデルに対するテストデータの最小化は,メタ発見的アルゴリズムと回路修正法を用いたこのタイプのテストにおける重要な因子である。可逆論理回路における多様な種類の故障ファミリーと,これらの故障に対するテスト可能な設計進展の排他的な研究を,この章で行った。挑戦を満たすために2つの広範な分類の下で豊富なアプローチを計画した。方法論は,可逆ゲートと回路の特性を利用することによって,ほとんどすべての故障とそれらのサブ種類を被覆するためにallegedされる。目的は,テストオーバーヘッドを最小化することである。それは,可試験性のために利用されるコスト計量を減少させることによって達成される。Copyright 2020 Springer Nature Singapore Pte Ltd. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： ベクトル ,  *故障 ,  可逆回路 ,  交差点 ,  可試験性
準シソーラス用語： オーバヘッド ,  発見的アルゴリズム ,  試験データ ,  オンライン ,  *故障モデル ,  *可逆論理 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (5件)： 信頼性  (KB04040H) ,  電子回路一般  (NC05010N) ,  論理回路  (NC05070B) ,  CAD,CAM  (JE10000A) ,  ディジタル計算機ハードウェア一般  (JC04010C)

タイトルに関連する用語 (3件)： 論理回路 ,  故障モデル ,  テスト