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J-GLOBAL ID：201902241853156420   整理番号：19A1814779

薄膜材料系Ni-Co-Alの高スループット構造および機能特性評価【JST・京大機械翻訳】

High-Throughput Structural and Functional Characterization of the Thin Film Materials System Ni-Co-Al

著者 (5件)： Decker Peer (Institute for Materials, Ruhr-Universitaet Bochum, Germany) ,  Naujoks Dennis (Institute for Materials, Ruhr-Universitaet Bochum, Germany) ,  Langenkaemper Dennis (Institute for Materials, Ruhr-Universitaet Bochum, Germany) ,  Somsen Christoph (Institute for Materials, Ruhr-Universitaet Bochum, Germany) ,  Ludwig Alfred (Institute for Materials, Ruhr-Universitaet Bochum, Germany)
資料名： ACS Combinatorial Science  (ACS Combinatorial Science)
巻： 19  号： 10  ページ： 618-624  発行年： 2017年 
JST資料番号： W1756A  ISSN： 2156-8952  CODEN： ACSCCC  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高スループット法を用いて,Ni-Co-Al薄膜材料ライブラリーを調べた。これは,構造的および機能的応用(超合金,形状記憶合金)にとって興味深いものである。X線回折(XRD)測定を行い,600°Cでのアニーリング後の状態におけるNi-Co-Al系の相領域を同定した。光学的,電気的および磁気光学的測定を行い,機能特性をマップし,XRD結果を確認した。全ての結果と文献データを用いてNi-Co-Al薄膜系の三元薄膜状態図を提案した。Copyright 2019 American Chemical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 状態図 ,  *薄膜 ,  X線回折分析 ,  形状記憶合金 ,  超合金 ,  光学的測定 ,  X線回折 ,  スパッタリング ,  透過型電子顕微鏡 ,  焼なまし ,  材料科学 ,  磁気
準シソーラス用語： ハイスループット法 ,  *機能性 ,  *ハイスループット ,  *薄膜材料 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： X線回折 ,  スパッタリング ,  材料ライブラリ ,  コンビナトリアル材料科学 ,  磁気光学Kerr効果 ,  透過型電子顕微鏡

分類 (4件)： 酸化物薄膜  (BK14050P) ,  塩基,金属酸化物  (CD01030Z) ,  人工知能  (JE08000Z) ,  金属薄膜  (BK14030T)

タイトルに関連する用語 (6件)： 薄膜材料 ,  Ni ,  CO ,  Al ,  高スループット ,  特性評価