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J-GLOBAL ID：201902242649908860   整理番号：19A2480072

測定・検査最前線 テラヘルツ偏光計測による高分子材料の内部異方性検査〈反射型テラヘルツ偏光計測装置を用いた黒色ゴム内部のフィラー配向検査〉

著者 (2件)： 岡野真人 (慶応大) ,  渡邉紳一 (慶応大)
資料名： プラスチックス  (Japan Plastics)
巻： 70  号： 10  ページ： 22-25  発行年： 2019年10月10日 
JST資料番号： F0254A  ISSN： 0555-7887  CODEN： PRSKAW  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年,新しい非破壊検査用光源としてテラヘルツ光が注目されている。我々は反射型テラヘルツ偏光計測装置を開発し,可視光に対して不透明な黒色ゴム内部の異方性を非破壊で検査する手法を確立した。本手法は他の高分子材料への展開も期待される技術である。(著者抄録)

シソーラス用語： *テラヘルツ波 ,  *偏光測定 ,  測光 ,  *高分子 ,  内面 ,  *異方性 ,  計測システム ,  非破壊検査 ,  黒 ,  フッ素ゴム ,  カーボンブラック ,  凝集体 ,  配向 ,  分光分析 ,  高分子材料
準シソーラス用語： 反射型テラヘルツ偏光計測装置

分類 (2件)： 物理的性質一般  (YH02021U) ,  偏光測定と偏光計  (BD07050K)

タイトルに関連する用語 (11件)： 検査 ,  テラヘルツ ,  偏光 ,  計測 ,  高分子材料 ,  異方性 ,  計測装置 ,  黒色 ,  ゴム ,  フィラー ,  配向