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J-GLOBAL ID：201902242776792432   整理番号：19A2496845

半透明物体の三次元形状測定のための光散乱解析【JST・京大機械翻訳】

Light scattering analysis for measuring the 3-D shape of a translucent object

著者 (2件)： Ohtani Kozo (Hiroshima Institute of Technology, Hiroshima, Japan) ,  Baba Mitsuru (Ibaraki University, Ibaraki, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019  号： SICE  ページ： 151-155  発行年： 2019年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 半透明物体に照射された光は内部に多重反射され,入射位置とは異なる位置から放出される。この挙動は表面下散乱と呼ばれる。表面下散乱挙動を理解することは,半透明物体の三次元(3-D)形状とCG表現の測定において非常に重要である。本研究では,光線追跡法を用いて半透明物体の表面下散乱をシミュレートし,シミュレーション結果を用いて,スポットライト投影法による三次元半透明物体の形状測定法を検討した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 光線追跡 ,  シミュレーション ,  *透明材料 ,  *光散乱 ,  多重反射 ,  *散乱 ,  *形状測定 ,  *三次元
準シソーラス用語： *三次元形状測定 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 透明物体 ,  三次元形状測定 ,  光散乱 ,  解析