文献

J-GLOBAL ID：201902243764075407   整理番号：19A2207676

高電離放射線に対するCeO_2,ThO_2及びUO_2の応答に及ぼす照射温度の影響【JST・京大機械翻訳】

Effects of irradiation temperature on the response of CeO₂, ThO₂, and UO₂ to highly ionizing radiation

著者 (12件)： Cureton William F. (Department of Nuclear Engineering, University of Tennessee, Knoxville, TN, 37996, USA) ,  Palomares Raul I. (Department of Nuclear Engineering, University of Tennessee, Knoxville, TN, 37996, USA) ,  Tracy Cameron L. (Department of Geological Sciences, Stanford University, Stanford, CA, 94305, USA) ,  Tracy Cameron L. (Belfer Center for Science and International Affairs, John F. Kennedy School of Government, Harvard University, Cambridge, MA, 02138, USA) ,  O’Quinn Eric C. (Department of Nuclear Engineering, University of Tennessee, Knoxville, TN, 37996, USA) ,  Walters Jeffrey (Department of Nuclear Engineering, University of Tennessee, Knoxville, TN, 37996, USA) ,  Zdorovets Maxim (Institute of Nuclear Physics, Almaty, 050032, Kazakhstan) ,  Zdorovets Maxim (L. N. Gumilyov Eurasian National University, Nur-Sultan, 010008, Kazakhstan) ,  Zdorovets Maxim (Ural Federal University, Yekaterinburg, 620075, Russia) ,  Ewing Rodney C. (Department of Geological Sciences, Stanford University, Stanford, CA, 94305, USA) ,  Toulemonde Marcel (CIMAP-GANIL, CEA-CNRS-ENSICAEN, Bd H. Becquerel, Caen, 14070, France) ,  Lang Maik (Department of Nuclear Engineering, University of Tennessee, Knoxville, TN, 37996, USA)
資料名： Journal of Nuclear Materials  (Journal of Nuclear Materials)
巻： 525  ページ： 83-91  発行年： 2019年 
JST資料番号： D0148A  ISSN： 0022-3115  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 微結晶CeO_2,ThO_2およびUO_2を,25°Cから700°Cの温度範囲で,同じフルエンスに198MeV132Xeイオンを照射し,次に,シンクロトロンX線回折およびX線吸収分光法により特性化した。全ての試料は,1.5×10~13イオン/cm2のフルエンスで結晶度とそれらの公称蛍石型相を保持した。CeO_2とThO_2の両方は室温での照射後に欠陥誘起単位胞膨張を示したが(それぞれ~0.15%と~0.10%),照射温度が増加すると最大膨潤は~0.02%まで減少した。代わりに,UO_2は,室温照射に対して単位格子定数(約-0.05%)における初期収縮を示し,照射増強アニーリングまたは照射誘起酸化に最も関連している可能性がある。より高い温度(200°C以上)ではUO_2は膨潤し始め,照射前の単位格子定数(~0.05%)を上回り,真空中のウラン酸化状態のわずかな減少に起因すると考えられる。しかし,室温で照射されたCeO_2は部分的還元を受けるが,UO_2とThO_2の両方は,X線吸収分光法によって証明されるように,カチオン酸化状態において測定可能な変化を示さない。全ての試料は照射温度の上昇とともに照射誘起不均一微小歪の減少を示した。Copyright 2019 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 微結晶 ,  蛍石 ,  X線吸収分光法 ,  *フルエンス ,  カチオン ,  キャラクタリゼーション ,  ウラン ,  焼なまし ,  酸化 ,  結晶度 ,  膨潤 ,  X線回折
準シソーラス用語： 酸化状態 ,  単位格子 ,  *照射温度 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (7件)： CeO_2 ,  ThO_2 ,  UO_2 ,  イオン照射 ,  高温 ,  X線回折 ,  X線吸収分光法

分類 (1件)： 核燃料の基礎的性質  (MD08020V)

タイトルに関連する用語 (3件)： 電離放射線 ,  応答 ,  照射温度