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J-GLOBAL ID：201902244071482117   整理番号：19A0120106

論理BISTにおける部分観測によるマルチサイクルスキャンテストのためのフリップフロップ選択について【JST・京大機械翻訳】

On Flip-Flop Selection for Multi-cycle Scan Test with Partial Observation in Logic BIST

著者 (5件)： Oshima Shigeyuki ,  Kato Takaaki ,  Wang Senling ,  Sato Yasuo ,  Kajihara Seiji
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： ATS  ページ： 30-35  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： スキャンベースの論理BISTのための部分的観測によるマルチサイクル試験は,テスト時間の増加なしで故障範囲を改良するための効果的方法のひとつとして知られている。この方法において,部分的観測のためのフリップフロップの選択は,小面積オーバーヘッドで高い故障範囲を達成するために重要である。本論文では,多数のフリップフロップに対する制限下での選択法を提案した。この方法は,CUTの構造解析と試験ベクトルの論理シミュレーションから成り,したがって,それは容易な実装と良好なスケーラビリティを提供する。ベンチマーク回路に関する実験結果は,この方法が元の方法より少ない面積オーバーヘッドでより高い故障範囲を得ることを示した。また,選ばれたフリップフロップの数と故障カバレッジの間の関係を調査した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *双安定回路 ,  *走査 ,  繰返し試験 ,  故障 ,  ベクトル ,  *BIST ,  構造解析 ,  論理シミュレーション
準シソーラス用語： 故障カバレッジ ,  ベンチマーク回路 ,  選択法 ,  オーバヘッド ,  *スキャンテスト , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 論理 ,  BIST ,  観測 ,  フリップフロップ