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J-GLOBAL ID：201902245410384508   整理番号：19A2110922

ナノ積層(Mn_0.5Cr_0.5)_2GaC薄膜における異方性伝導率の直接測定【JST・京大機械翻訳】

Direct measurement of anisotropic conductivity in a nanolaminated (Mn_0.5Cr_0.5)₂GaC thin film

著者 (9件)： Flatten Tim (Peter Gruenberg Institut (PGI-6), Forschungszentrum Juelich, D-52425 Juelich, Germany) ,  Matthes Frank (Peter Gruenberg Institut (PGI-6), Forschungszentrum Juelich, D-52425 Juelich, Germany) ,  Petruhins Andrejs (Thin Film Physics Division, Department of Physics, Chemistry and Biology (IFM), Linkoping University, SE-58183 Linkoping, Sweden) ,  Salikhov Ruslan (Faculty of Physics and Center for Nanointegration (CENIDE), University of Duisburg-Essen, 47057 D-Duisburg, Germany) ,  Wiedwald Ulf (Faculty of Physics and Center for Nanointegration (CENIDE), University of Duisburg-Essen, 47057 D-Duisburg, Germany) ,  Farle Michael (Faculty of Physics and Center for Nanointegration (CENIDE), University of Duisburg-Essen, 47057 D-Duisburg, Germany) ,  Rosen Johanna (Thin Film Physics Division, Department of Physics, Chemistry and Biology (IFM), Linkoping University, SE-58183 Linkoping, Sweden) ,  Buergler Daniel E. (Peter Gruenberg Institut (PGI-6), Forschungszentrum Juelich, D-52425 Juelich, Germany) ,  Schneider Claus M. (Peter Gruenberg Institut (PGI-6), Forschungszentrum Juelich, D-52425 Juelich, Germany)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 115  号： 9  ページ： 094101-094101-5  発行年： 2019年 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 磁性M_n+1AX_n(MAX)相膜の異方性電気抵抗率の直接およびパラメータフリー測定を示した。マルチチップ走査トンネル顕微鏡を用いて,可変プローブ間隔で4プローブ輸送測定を行った。小さいsに対する3D領域から大きなsに対する2D領域へのクロスオーバの観測は,面内および垂直面抵抗率ρ_abおよびρ_cの両方の決定を可能にした。(Cr_0.5Mn_0.5)_2GaC MAX相膜は,大きい異方性比ρ_c/ρ_ab=525±49を示した。これは,MX面における共有結合M-Xと金属M-M結合を有するMAX相の複雑な結合スキームの結果であり,MXとA面の間の弱い結合であるが,より弱い結合である。Copyright 2019 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 垂直面 ,  共有結合 ,  電気抵抗率 ,  *異方性 ,  プローブ ,  磁性 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  *薄膜
準シソーラス用語： MAX相 ,  クロスオーバー ,  *直接測定 ,  *伝導率 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (4件)： 半導体薄膜  (BK14040E) ,  金属の結晶構造  (BK06000V) ,  金属結晶の電子伝導  (BM03033M) ,  半導体結晶の電気伝導  (BM03043X)

タイトルに関連する用語 (4件)： 薄膜 ,  異方性 ,  伝導率 ,  直接測定