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J-GLOBAL ID：201902247740015183   整理番号：19A1415550

接合閉鎖により形成されたAu単原子接触の破壊電圧【JST・京大機械翻訳】

Break voltage of Au single-atom contacts formed by junction closure

著者 (5件)： Wakasugi Shinsaku (Department of Materials Science and Engineering, Kyoto University, Sakyo-ku, Kyoto 606-8501 Japan) ,  Kurokawa Shu (Department of Materials Science and Engineering, Kyoto University, Sakyo-ku, Kyoto 606-8501 Japan) ,  Kim Howon (Institute for Solid State Physics, University of Tokyo, Kashiwa 277-8581 Japan) ,  Hasegawa Yukio (Institute for Solid State Physics, University of Tokyo, Kashiwa 277-8581 Japan) ,  Sakai Akira (Department of Materials Science and Engineering, Kyoto University, Sakyo-ku, Kyoto 606-8501 Japan)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 121  号： 24  ページ： 244304-244304-8  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 接触閉鎖によりAu単原子接触(SAC)を作製し,それらが従来の破壊接合法により形成されたSACよりも高い破壊電圧を示すことを見出した。著者らの発見は,SAC内部の引張力が,それらの高バイアス安定性を得るために重要であり,SAC破壊電圧を,引張力を減少させることによって,増加させることができることを明確に示した。走査型トンネル顕微鏡チップ-試料接触により形成されたPb SACの破壊電圧と破壊接合法も比較した。Copyright 2019 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： バイアス ,  *接合 ,  *金 ,  引張力
準シソーラス用語： STMチップ ,  *絶縁破壊電圧 ,  *単一原子 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 金属-絶縁体-金属構造  (BM03087F) ,  固体の機械的性質一般  (BL01021C) ,  その他の接合  (BM03088W)

タイトルに関連する用語 (4件)： 閉鎖 ,  Au ,  単原子 ,  破壊電圧