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J-GLOBAL ID：201902249268439243   整理番号：19A1917380

電磁干渉遮蔽における欠陥誘起カーボンナノチューブの対照的役割【JST・京大機械翻訳】

Contrasting Role of Defect-Induced Carbon Nanotubes in Electromagnetic Interference Shielding

著者 (2件)： Manna Kunal (Department of Chemistry, Indian Institute of Technology Kharagpur, India) ,  Srivastava Suneel Kumar (Department of Chemistry, Indian Institute of Technology Kharagpur, India)
資料名： Journal of Physical Chemistry C  (Journal of Physical Chemistry C)
巻： 122  号： 34  ページ： 19913-19920  発行年： 2018年 
JST資料番号： W1877A  ISSN： 1932-7447  CODEN： JPCCCK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 欠陥の調整は材料価値の探索と研究のために重要である。これを考慮して,さらなる欠陥を単層カーボンナノチューブ(SWCNT)に,それらをカンファー媒介燃焼に曝すことにより組み込み,X線回折,Raman分光法,X線光電子分光法,電界放出走査電子顕微鏡,高分解能透過型電子顕微鏡,および電子常磁性共鳴により特性化した。続いて,SWCNT vis-a-vis多層カーボンナノチューブ(MWCNT)充填ポリスチレン(PS)ナノ複合材料の電磁干渉(EMI)遮蔽性能を比較した。興味深いことに,SWCNTにおける誘起欠陥は,EMI遮蔽材料としての性能においてMWCNTに関して対照的な役割を果たした。これらの知見は,CNTのアスペクト比とパーコレーション閾値,ならびに電磁気理論の観点でのPS/CNTナノ複合材料のdc伝導率と相関していた。Copyright 2019 American Chemical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *カーボンナノチューブ ,  X線光電子スペクトル ,  単層カーボンナノチューブ ,  電磁気 ,  ESR【磁気共鳴】 ,  X線光電子分光法 ,  X線回折 ,  *電磁干渉 ,  多層カーボンナノチューブ ,  アスペクト比 ,  Raman分光法 ,  キャラクタリゼーション ,  ナノ複合材料
準シソーラス用語： 伝導率 ,  パーコレーション閾値 ,  電界放出型走査電子顕微鏡 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 原子・分子のクラスタ  (BH09030O) ,  炭素とその化合物  (YB02060D)

タイトルに関連する用語 (7件)： 電磁干渉 ,  遮蔽 ,  欠陥 ,  誘起 ,  カーボンナノチューブ ,  対照 ,  役割