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J-GLOBAL ID：201902250300319085   整理番号：19A0307693

16μm画素ピッチ,0.1AF検出精度,および第2フレームを用いたCMOS近接容量イメージセンサ【JST・京大機械翻訳】

A CMOS Proximity Capacitance Image Sensor with $16¥mu ¥mathrm{m}$ Pixel Pitch, 0.1aF Detection Accuracy and 60 Frames Per Second

著者 (8件)： Yamamoto M. (Graduate School of Engineering, Tohoku Univ., Sendai, Miyagi, Japan) ,  Kuroda R. (Graduate School of Engineering, Tohoku Univ., Sendai, Miyagi, Japan) ,  Suzuki M. (Graduate School of Engineering, Tohoku Univ., Sendai, Miyagi, Japan) ,  Goto T. (New Industry Creation Hatchery Center, Tohoku Univ., Sendai, Miyagi, Japan) ,  Hamori H. (OHT Inc., Fukuyama, Hiroshima, Japan) ,  Murakami S. (OHT Inc., Fukuyama, Hiroshima, Japan) ,  Yasuda T. (OHT Inc., Fukuyama, Hiroshima, Japan) ,  Sugawa S. (Graduate School of Engineering, Tohoku Univ., Sendai, Miyagi, Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： IEDM  ページ： 29.1.1-29.1.4  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 0.18μm CMOSプロセス技術により作製した二次CMOS近接容量画像センサ当たり16μm画素ピッチ60フレームを示した。雑音除去動作の導入により,固定パターン雑音とkTC雑音の両方を大幅に低減し,0.1aF(10~19F)検出精度を得た。開発したセンサを用いた近接容量イメージングの結果も示した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 雑音 ,  *画素 ,  *イメージセンサ ,  *センサ ,  雑音除去 ,  画像処理 ,  *CMOS
準シソーラス用語： 固定パターン雑音 ,  *検出精度 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (4件)： 音声処理  (JE05000E) ,  符号理論  (ND02030R) ,  専用演算制御装置  (JC04030Y) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 画素ピッチ ,  検出精度 ,  CMOS ,  イメージセンサ