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J-GLOBAL ID：201902251443301037   整理番号：19A0470172

野外調査におけるPVモジュール劣化評価のための修正STC補正手順【JST・京大機械翻訳】

Modified STC Correction Procedure for Assessing PV Module Degradation in Field Surveys

著者 (7件)： Singh Hemant K. (Department of Electrical Engineering, National Centre for Photovoltaic Research and Education (NCPRE), IIT Bombay, Powai, Mumbai, 400076, India) ,  Dubey R. (Department of Electrical Engineering, National Centre for Photovoltaic Research and Education (NCPRE), IIT Bombay, Powai, Mumbai, 400076, India) ,  Zachariah S. (Department of Electrical Engineering, National Centre for Photovoltaic Research and Education (NCPRE), IIT Bombay, Powai, Mumbai, 400076, India) ,  Narasimhan K. L. (Department of Electrical Engineering, National Centre for Photovoltaic Research and Education (NCPRE), IIT Bombay, Powai, Mumbai, 400076, India) ,  Arora B. M. (Department of Electrical Engineering, National Centre for Photovoltaic Research and Education (NCPRE), IIT Bombay, Powai, Mumbai, 400076, India) ,  Kottantharayil A. (Department of Electrical Engineering, National Centre for Photovoltaic Research and Education (NCPRE), IIT Bombay, Powai, Mumbai, 400076, India) ,  Vasi J. (Department of Electrical Engineering, National Centre for Photovoltaic Research and Education (NCPRE), IIT Bombay, Powai, Mumbai, 400076, India)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： PVSC  ページ： 1995-1999  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,PVフィールド調査に対する適合性に重点を置いて,STC条件に対するモジュールの測定されたI-V特性を変換するための新しい方法を検討した。著者らの提案した標準放射輝度測定温度(SIDT)法の予測精度を,修正IEC60891の手順-1およびAndersonモデルベースの手順と比較した。提案したSIDT法は最大電力において±1%以下の正規化二乗平均誤差をもたらすが,他の二つの方法は±2%以上の誤差をもたらすことを示した。また,STC条件での他のパラメータを予測するために,SIDT法がより良いことを示した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *Anderson模型 ,  電流電圧特性 ,  適応性 ,  放射輝度 ,  正規化 ,  現地調査
準シソーラス用語： ピーク電力 ,  予測精度 ,  *屋外調査 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 野外調査 ,  PV ,  モジュール ,  評価 ,  手順