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J-GLOBAL ID：201902252969315670   整理番号：19A2400166

走査ビーム顕微鏡における線量低減のための修復対雑音除去【JST・京大機械翻訳】

Inpainting Versus Denoising for Dose Reduction in Scanning-Beam Microscopies

著者 (2件)： Sanders Toby (School of Mathematical and Statistical Sciences, Arizona State University, Tempe, AZ, USA) ,  Dwyer Christian (Department of Physics, Arizona State University, Tempe, AZ, USA)
資料名： IEEE Transactions on Image Processing  (IEEE Transactions on Image Processing)
巻： 29  ページ： 351-359  発行年： 2020年 
JST資料番号： W0364A  ISSN： 1057-7149  CODEN： IIPRE4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： SEM,STEM,STXMなどの走査ビーム顕微鏡における画像取得中の放射線量を低減するためのサンプリング戦略を検討した。著者らの基本的仮定は,サブサンプリング画像データ(いくつかの画素欠落を伴う)を獲得し,次に圧縮センシング手法を用いて欠落データをインペイントすることである。雑音モデルはPoisson雑音とランダムGauss雑音からなる。完全にサンプリングされた画像データを得る可能性を含み,そこでは,絵画アプローチが雑音除去手順に減少する。数値シミュレーションを用いて,再構成画像の精度を「地上信頼」と比較した。結果は,十分に高い放射線量に対して,より高いサンプリング速度がより高い精度を達成し,良く確立された文献と一致することを示した。しかし,非常に低い放射線量に対しては,Poisson雑音および/またはランダムGauss雑音が支配的になり,次に,サブサンプリング/イン塗装がより小さな再構成誤差をもたらすことを示した。また,情報理論解析を提示し,異なるサンプリング戦略を通して得られた情報量を定量化し,主な結果のいくつかの広範な議論を可能にした。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 塗料 ,  塗装 ,  *雑音除去 ,  Gauss雑音 ,  再構成 ,  放射線量
準シソーラス用語： 理論解析 ,  サンプリング速度 ,  再構成画像 ,  数値シミュレーション ,  ポアソン雑音 ,  雑音モデル ,  圧縮センシング ,  画像データ ,  サブサンプリング , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 走査ビーム ,  顕微鏡 ,  線量低減 ,  修復 ,  雑音除去