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J-GLOBAL ID：201902257824266322   整理番号：19A2111193

ビスマスフェライトナノ構造の構造と誘電特性に及ぼすアニーリング温度の影響【JST・京大機械翻訳】

Effect of annealing temperature on structural and dielectric properties of bismuth ferrite nanostructures

著者 (3件)： Kumar Praveen (Department of Physics, National Institute of Technology, Kurukshetra-136119 INDIA) ,  Chand Prakash (Department of Physics, National Institute of Technology, Kurukshetra-136119 INDIA) ,  Joshi Aman (Department of Physics, National Institute of Technology, Kurukshetra-136119 INDIA)
資料名： AIP Conference Proceedings  (AIP Conference Proceedings)
巻： 2142  号： 1  ページ： 040007-040007-5  発行年： 2019年 
JST資料番号： D0071C  ISSN： 0094-243X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,ゾル-ゲル法によりBiFeO_3ナノ構造を合成し,構造及び誘電特性に及ぼすアニーリング温度の影響を調べた。X線回折計(XRD)および走査電子顕微鏡(FESEM)を用いて,合成およびアニールした試料の構造および形態研究を行った。異なる温度でアニールした全ての試料のXRDスペクトルは,全てのピークがBiFeO_3のR3C相の特性ピークに対応し,BiFeO_3の単相再ホモヘドラル結晶構造を示すことを明らかにした。試料T3の結晶子サイズは22nmである。全てのBFO(T1,T2及びT3)試料のバンドギャップをUv-可視分光法により推定し,それぞれ1.9eV,2.1eV及び2.3eVであった。全ての試料の誘電特性を温度依存複素インピーダンス分光分析器により周波数範囲(5MHz~10Hz)で評価した。Copyright 2019 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 温度依存性 ,  結晶構造 ,  *誘電性 ,  X線回折分析 ,  形態 ,  電子顕微鏡観察 ,  スペクトル ,  X線回折計 ,  走査電子顕微鏡 ,  単相 ,  X線回折 ,  バンドギャップ ,  *ナノ構造
準シソーラス用語： 複素インピーダンス ,  電界放出型走査電子顕微鏡 ,  *アニーリング温度 ,  *ビスマスフェライト , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 酸化物結晶の磁性  (BM06050E) ,  強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B)

タイトルに関連する用語 (4件)： ビスマスフェライト ,  ナノ構造 ,  誘電特性 ,  アニーリング温度