文献

J-GLOBAL ID：201902258941057264   整理番号：19A1771056

高精度FMCW光学測距システムを用いた三次元物体プロファイリング【JST・京大機械翻訳】

Three-Dimensional Object Profiling Using Highly Accurate FMCW Optical Ranging System

著者 (3件)： Ula Rini Khamimatul (Division of Electrical Engineering and Computer Science, Graduate School of Natural Science and Technology, Kanazawa University, Kanazawa, Japan) ,  Noguchi Yusuke (Division of Electrical Engineering and Computer Science, Graduate School of Natural Science and Technology, Kanazawa University, Kanazawa, Japan) ,  Iiyama Koichi (Division of Electrical Engineering and Computer Science, Graduate School of Natural Science and Technology, Kanazawa University, Kanazawa, Japan)
資料名： Journal of Lightwave Technology  (Journal of Lightwave Technology)
巻： 37  号： 15  ページ： 3826-3833  発行年： 2019年 
JST資料番号： H0922A  ISSN： 0733-8724  CODEN： JLTEDG  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高精度の周波数変調連続波光学測距システムを用いた三次元物体プロファイリングシステムを開発した。DFBレーザと垂直共振器面発光レーザ(VCSEL)をレーザ光源として用い,光周波数を対称三角波による注入電流変調により掃引した。光周波数掃引における非線形性の影響は,kサンプリング技術を利用することによって相殺される。VCSELの光周波数掃引範囲はDFBレーザのそれよりも大きいので,VCSELを用いることにより高い空間分解能と高い測距精度を達成した。半値全幅(FWHM)により評価した空間分解能は460μmで,周波数掃引レーザ光源としてVCSELを用いた場合,測距精度の標準偏差はσ=2.7μmであり,周波数掃引レーザ光源としてDFBレーザを用いた場合,FWHMは2.3mmとσ=14.8μmであった。従って,周波数掃引レーザ光源としてVCSELを用いることにより,コインとプリント基板の微細で明確なオブジェクトプロファイリングを実現した。最後に,注入電流変調の繰返し周波数を増加させ,データ収集のタイミングを最適化することにより,測定時間を高速化した。これまでの結果よりも4倍速い201×201の測定点に対して,22.6sの最大測定時間を達成した。また,プロファイリング品質を改善するために,移動平均フィルタリングとメディアンフィルタリングの効果を検討した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *距離測定 ,  空間分解能 ,  最適化 ,  垂直共振器形面発光レーザ ,  高速化 ,  電流制御 ,  標準偏差 ,  フィルタリング ,  分布帰還形レーザ ,  品質 ,  FWHM
準シソーラス用語： 繰返し周波数 ,  周波数掃引 ,  レーザー光源 ,  *プロファイリング , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 半導体レーザ  (BD04070L)

タイトルに関連する用語 (4件)： 光学 ,  測距システム ,  三次元物体 ,  プロファイリング