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J-GLOBAL ID：201902259475151785   整理番号：19A1871302

制限背面電極型素子を用いた蓄積電荷測定

著者 (8件)： 谷村利精 (兵庫県大 院) ,  荻野晃成 (兵庫県大 院) ,  宮本裕太 (兵庫県大 院) ,  角屋智史 (兵庫県大 院) ,  小簑剛 (兵庫県大 院) ,  横松得滋 (兵庫県大 院) ,  前中一介 (兵庫県大 院) ,  田島裕之 (兵庫県大 院)
資料名： 日本化学会春季年会講演予稿集(CD-ROM)
巻： 99th  ページ： ROMBUNNO.4D3-05  発行年： 2019年03月01日 
JST資料番号： S0493B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 有機/金属界面における電荷注入障壁を,蓄積電荷測定法(ACM法)を用いて決定できることを,以前の研究で示した。しかしながら,熱酸化型高ドープn-Si基板を用いた素子では,有機層における蓄積電荷の広がりにより,絶縁体層の電気容量を直接決定できないことが問題であった。本発表では,AlおよびITO電極を用いた制限背面電極型素子を作製し用いることで,電荷拡散を抑制した測定に成功したため,これを報告する。(著者抄録)

シソーラス用語： *電気測定 ,  電極 ,  固体素子 ,  アルミニウム ,  *半導体素子 ,  *電圧依存性 ,  *静電容量 ,  電荷 ,  *電荷測定
準シソーラス用語： ITO電極 ,  *金属-絶縁体-半導体素子

分類 (1件)： 金属-絶縁体-半導体構造  (BM03085X)

タイトルに関連する用語 (4件)： 制限 ,  背面電極 ,  蓄積 ,  電荷測定