文献

J-GLOBAL ID：201902261122335106   整理番号：19A1804984

微分濃度走査イオンコンダクタンス顕微鏡法【JST・京大機械翻訳】

Differential-Concentration Scanning Ion Conductance Microscopy

著者 (6件)： Perry David (Department of Chemistry, University of Warwick) ,  Page Ashley (Department of Chemistry, University of Warwick) ,  Page Ashley (MOAC Doctoral Training Centre, University of Warwick) ,  Chen Baoping (Department of Chemistry, University of Warwick) ,  Frenguelli Bruno G. (School of Life Sciences, University of Warwick) ,  Unwin Patrick R. (Department of Chemistry, University of Warwick)
資料名： Analytical Chemistry  (Analytical Chemistry)
巻： 89  号： 22  ページ： 12458-12465  発行年： 2017年 
JST資料番号： A0395A  ISSN： 0003-2700  CODEN： ANCHAM  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 走査型イオンコンダクタンス顕微鏡(SICM)は,電解質溶液を含むナノ粒子プローブ内部に挿入された電極とバルク電解質浴中に置かれた第二電極との間に流れるイオン電流を利用して,関心のある基板に関する情報を提供するナノ粒子ベースの走査プローブ顕微鏡技術である。今日までの多くの応用のために,ナノ粒子の内部と外部の電解質の組成と濃度は同一であるが,ここでは,この制限を上げるのに非常に有益であることを示した。特に,ナノ粒子の末端におけるイオン濃度勾配は,非常に減少した電場強度を有するイオン電流を生み出し,特に生細胞イメージングに対して利点がある。SICM(ΔC-SICM)のこの微分濃度モードも表面電荷測定を強化し,反応速度の同時デリバリーとセンシングのためのチップを用いて表面での反応マッピング測定を行う新しい方法を提供した。電気化学セルとしてのSICMの理解を強化し,実験の解釈と最適化を可能にするために,包括的有限要素法(FEM)モデリングを行った。電気浸透流(EOF)は,標準SICMモードと比較して,ΔC-SICM構成におけるナノ粒子応答に非常に多くの影響を及ぼすことを示した。一般的モデルは以前の処理を進歩させ,定量的SICM研究の枠組みを提供した。Copyright 2019 American Chemical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *走査 ,  最適化 ,  イオン電流 ,  反応速度 ,  電解質 ,  *微分 ,  濃度勾配 ,  電界強度 ,  走査型プローブ顕微鏡 ,  ナノ粒子 ,  *顕微鏡観察 ,  *イオン ,  モデリング ,  プローブ
準シソーラス用語： 生細胞イメージング , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B) ,  電気化学反応  (CB07050F) ,  分析機器  (CC02020S)

タイトルに関連する用語 (5件)： 微分 ,  走査 ,  イオン ,  コンダクタンス ,  顕微鏡法