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J-GLOBAL ID：201902261693405139   整理番号：19A0887260

動的原子間力顕微鏡法を用いたチップ-試料相互作用測定の精度:振動振幅,相互作用強度およびチップ-サンプル距離への依存性【JST・京大機械翻訳】

Accuracy of tip-sample interaction measurements using dynamic atomic force microscopy techniques: Dependence on oscillation amplitude, interaction strength, and tip-sample distance

著者 (2件)： Dagdeviren Omur E. (Department of Mechanical Engineering and Materials Science, Yale University, New Haven, Connecticut 06520, USA) ,  Schwarz Udo D. (Department of Mechanical Engineering and Materials Science, Yale University, New Haven, Connecticut 06520, USA)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 90  号： 3  ページ： 033707-033707-7  発行年： 2019年 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 原子間力顕微鏡(AFM)は,試料とプローブ先端の間に作用する力の部位特異的高分解能定量化を通して,その表面化学を同時に調べながら,高空間分解能で試料のトポグラフィーをマッピングできる汎用的な表面特性化法である。AFM測定技術におけるかなりの進歩により,化学的性質のそのような局所的測定は近年多くの人気を得ている。この目的のために,振動周波数または振動振幅と振動カンチレバーの位相のいずれかがチップ-サンプル距離の関数として記録され,それに続いてチップ-サンプル力または相互作用ポテンシャルを反映するように変換される動的AFM法を実行した。しかし,このような変換は,振動振幅が相互作用の減衰長さのオーダである場合,最も一般的に使用される数学的変換手順を適用するとき,無視できない誤差を生じることが示されている。これらの以前の知見を拡張して,本論文で示した計算研究は,実際の値からの発散の程度が,チップ-試料相互作用の全体的強度と相互作用が得られる距離の両方に決定的に依存することを明らかにした。しかし,これらの系統誤差は,相互作用ポテンシャルの減衰長よりも十分に大きい振動振幅を用いることにより,効果的に除去できる。Copyright 2019 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 位相 ,  界面化学 ,  *原子間力顕微鏡 ,  プローブ ,  *振動振幅 ,  数学的変換 ,  *相互作用 ,  高分解能 ,  系統誤差 ,  振動数 ,  片持梁 ,  表面性状
準シソーラス用語： 相互作用ポテンシャル ,  高空間分解能 ,  *原子間力顕微鏡法 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (6件)： 原子間力顕微鏡法 ,  試料 ,  相互作用 ,  振動振幅 ,  サンプル ,  依存性