Zhu Alexander Y. について
Harvard University, Harvard John A. Paulson School of Engineering and Applied Sciences, Cambridge, Massachusetts, 02138, USA について
Chen Wei Ting について
Harvard University, Harvard John A. Paulson School of Engineering and Applied Sciences, Cambridge, Massachusetts, 02138, USA について
Sisler Jared について
University of Waterloo, Waterloo, ON, N2L 3G1, Canada について
A. Yousef Kerolos M. について
Misr University for Science and Technology, College of Biotechnology, Giza, Egypt について
Lee Eric について
University of Waterloo, Waterloo, ON, N2L 3G1, Canada について
Huang Yao-Wei について
National University of Singapore, 119077, Singapore について
Qiu Cheng-Wei について
National University of Singapore, 119077, Singapore について
Capasso Federico について
Harvard University, Harvard John A. Paulson School of Engineering and Applied Sciences, Cambridge, Massachusetts, 02138, USA について
IEEE Conference Proceedings について
収差補正 について
スペクトル分解 について
分光計 について
レンズ について
スポットサイズ について
回折限界 について
メタ表面 について
図形・画像処理一般 について
アンテナ について
収差補正 について
分光法 について
工学 について
メタ表面 について