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J-GLOBAL ID:201902262261072314   整理番号:19A1484928

意図的電磁干渉を受けるマルチポートシステムにおける放射線感受性効果の最悪ケースシナリオ【JST・京大機械翻訳】

Worst-Case Scenarios of Radiated-Susceptibility Effects in a Multiport System Subject to Intentional Electromagnetic Interference
著者 (4件):
資料名:
巻:ページ: 76500-76512  発行年: 2019年 
JST資料番号: W2422A  ISSN: 2169-3536  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本論文では,高出力電磁(HPEM)場との結合により,線形マルチポート系における意図的電磁干渉(IEMI)を評価する方法を示した。最初に,Lorentz相反定理に基づくアプローチを提案し,入射と偏光の任意方向に対する場結合をモデル化し,必要な全波数値シミュレーションの数を最小化した。その後,システムのポートにおける異なる放射線感受性効果に関連する最悪ケースシナリオを記述するために,3つの制約付き最適化問題を同定した。すなわち,制限された帯域幅と有限エネルギー密度の仮定の下で,HPEM場のスペクトルと波形が,誘導電圧波形の散逸エネルギー,ピーク,および整流インパルスを最大にするように見出される。最悪ケースエネルギーシナリオにおいて,HPEM場は適切に同調した狭帯域場であるが,最悪ケース電圧ピークシナリオにおいて,システムの周波数応答に適切に整合した広帯域場が必要であることを解析的に示した。さらに,誘起電圧の整流インパルスは,衝突場帯域幅を低減することにより任意に大きくできることを示した。低電圧差動信号伝送のための典型的なプリント回路基板相互接続を用いて,提案した方法を実証し,検証した。さらに,HPEM場の発生と分極パラメータについての知識の欠如に対処するために,また,被害者システムの不確実な幾何学的パラメータを説明するために,不確実性定量化技術を利用した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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信号理論 
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