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J-GLOBAL ID：201902262441284352   整理番号：19A1374262

2D-GIXDによるエピタキシャル薄膜の構造評価

著者 (5件)： 照井大貴 (岩手大) ,  小金澤智之 (高輝度光科学研究セ) ,  廣沢一郎 (高輝度光科学研究セ) ,  葛原大軌 (岩手大) ,  吉本則之 (岩手大)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 66th  ページ： ROMBUNNO.9p-PB3-1  発行年： 2019年02月25日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2436-7613  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： はじめに:有機薄膜の異方性は有機薄膜を用いた電子デバイスの特性に大きな影響を与えるため、有機薄膜の配向制御はデバイス作製プロセスにおいて極めて重要な要素となっている。エピタキシーを利用した真空蒸着法は、基板と有機分子の相互作用を積極的に活用...【本文一部表示】

シソーラス用語： *エピタクシー ,  二次元 ,  小角X線散乱 ,  X線回折 ,  有機材料 ,  *有機半導体 ,  *半導体薄膜 ,  構造解析 ,  分子配向 ,  真空蒸着 ,  蒸着膜
準シソーラス用語： *エピタキシャル膜 ,  *有機薄膜

分類 (1件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L)

タイトルに関連する用語 (4件)： 2D ,  エピタキシャル ,  薄膜 ,  構造評価