文献

J-GLOBAL ID：201902262890479712   整理番号：19A0202873

サブミクロンダイヤモンド粉末中の微量sp2炭素不純物のマイクロ波誘電率【JST・京大機械翻訳】

Microwave Permittivity of Trace sp² Carbon Impurities in Sub-Micron Diamond Powders

著者 (8件)： Cuenca Jerome Alexander (School of Engineering, Cardiff University) ,  Thomas Evan Lloyd Hunter (School of Physics and Astronomy, Cardiff University) ,  Mandal Soumen (School of Physics and Astronomy, Cardiff University) ,  Morgan David John (Cardiff Catalysis Institute, School of Chemistry, Cardiff University, Wales, U.K.) ,  Lloret Fernando (Departamento de Ciencias de los Materiales e Ingenieria Metalurgica y Quimica, Universidad de Cadiz, Cadiz, Spain) ,  Araujo Daniel (Departamento de Ciencias de los Materiales e Ingenieria Metalurgica y Quimica, Universidad de Cadiz, Cadiz, Spain) ,  Williams Oliver Aneurin (School of Physics and Astronomy, Cardiff University) ,  Porch Adrian (School of Engineering, Cardiff University)
資料名： ACS Omega  (ACS Omega)
巻： 3  号： 2  ページ： 2183-2192  発行年： 2018年 
JST資料番号： W5044A  ISSN： 2470-1343  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： マイクロ波誘電損失正接測定をサブミクロンダイヤモンド粉末中の微量sp2混成炭素不純物の定量法として実証した。適切な試験試料を600~1200°Cの温度で真空アニーリングにより調製し,部分的表面黒鉛化によりsp2/sp3炭素比を変化させた。マイクロ波誘電率測定をX線光電子分光法(XPS),Raman分光法および電子エネルギー損失分光法(EELS)を用いて得られたものと比較した。平均粒径は,マイクロ波測定から幾何学的誘電効果を分離するために,一定(走査電子顕微鏡により検証された)のままである。アニーリング後に,sp2炭素の小さな増加がXPS C1sとAugerスペクトル,C1sスペクトルのEELSσ*ピーク,Raman分光のDとGバンドから同定されたが,定量可能なダイヤモンドからGバンドのピーク比は得られなかった。表面水素化もRaman及びXPS O 1sデータで証明された。マイクロ波空洞摂動測定は,誘電損失正接がsp2結合の増加と共に増加し,これらの値が他の測定と相関し,5%の小さいsp2炭素の痕跡濃度が検出できることを示した。Copyright 2019 American Chemical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *マイクロ波 ,  黒鉛化 ,  摂動 ,  *不純物 ,  X線光電子分光法 ,  X線光電子スペクトル ,  Raman分光法 ,  *ダイヤモンド ,  焼なまし ,  誘電損失 ,  走査電子顕微鏡 ,  Augerスペクトル ,  *誘電率 ,  電子顕微鏡観察 ,  電子エネルギー損失分光法 ,  水素化 ,  定量分析

分類 (2件)： その他の無機化合物の薄膜  (BK14060A) ,  炭素とその化合物  (YB02060D)

タイトルに関連する用語 (6件)： サブ ,  ダイヤモンド粉末 ,  炭素 ,  不純物 ,  マイクロ波 ,  誘電率