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J-GLOBAL ID：201902263832399247   整理番号：19A1487207

基本関数と複雑なエレクトロニクスにおけるIEMIによって誘起されたソフト故障の解析【JST・京大機械翻訳】

Analysis of Soft-Faults induced by IEMI in Elementary Functions and Complex Electronics

著者 (3件)： Esteves J. Lopes (Wireless Security Lab, ANSSI, France) ,  Kasmi C. (Mobile and Telecom Lab, Darkmatter LLC, UAE) ,  Cottais E. (Wireless Security Lab, ANSSI, France)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019  号： AP-RASC  ページ： 1-3  発行年： 2019年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電子デバイスに対する意図的な電磁干渉により誘起される効果の検出と解析に多くの論文が検討げられている。多くの研究は,デバイスが特定の電磁波に曝されるとき,故障を分析する可能性を示している。本論文では,寄生曝露中に誘起される影響を検出し分類するために,実時間ソフトウェア故障における多重デバイスの動作システムを収集し,処理することを提案した。基本関数の複製を行い,複雑なシステムの故障点を特性化した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 電磁波 ,  ソフトウェア障害 ,  多重化 ,  *電子技術 ,  *故障 ,  電磁干渉 ,  キャラクタリゼーション
準シソーラス用語： 実時間 ,  電子素子 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (6件)： 関数 ,  エレクトロニクス ,  誘起 ,  ソフト ,  故障 ,  解析