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J-GLOBAL ID：201902264568561623   整理番号：19A1113352

放射線硬化フラッシュベースFPGA-RTG4のインビームプログラミング【JST・京大機械翻訳】

In-Beam Programming of Radiation-Hardened Flash-Based FPGA-RTG4

著者 (7件)： Wang Jih-Jong (Microsemi-SOC, San Jose, CA, 95134) ,  Rezzak Nadia (Microsemi-SOC, San Jose, CA, 95134) ,  Varela Stephen (Microsemi-SOC, San Jose, CA, 95134) ,  Nguyen Victor (Microsemi-SOC, San Jose, CA, 95134) ,  Samiee Salim (Microsemi-SOC, San Jose, CA, 95134) ,  Hawley Frank (Microsemi-SOC, San Jose, CA, 95134) ,  Hamdy Esmat (Microsemi-SOC, San Jose, CA, 95134)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： RADECS  ページ： 1-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 最初の放射硬化FlashベースFPGA-RTG4のインビームプログラミングを研究した。市販のFlashProによるプログラミングは,1.2~30.5MeV-cm2/mgのLET範囲で垂直重イオン照射下で行われる。ビーム試験における人工的に高いフラックスによるプログラミングの間に中断があるが,得られたWeibull曲線は空間におけるプログラミングの非常に高い成功率を予測する。中断の原因は,TPAレーザ走査により同定され,セルを構成する列とカラムレジスタの単一イベントアップセットである。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： レジスタ ,  *FPGA ,  SEU【シングルイベント】 ,  *放射線架橋 ,  重イオン照射
準シソーラス用語： レーザ走査 ,  成功率 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (3件)： 放射線硬化 ,  フラッシュ ,  FPGA