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J-GLOBAL ID：201902265169482268   整理番号：19A0926999

超短電子バンチ持続時間の決定のためのX線Hanbury Brown-Twiss干渉法【JST・京大機械翻訳】

X-ray Hanbury Brown-Twiss interferometry for determination of ultrashort electron-bunch duration

著者 (13件)： Inoue Ichiro (RIKEN SPring-8 Center, 1-1-1 Kouto, Sayo, Hyogo 679-5148, Japan) ,  Hara Toru (RIKEN SPring-8 Center, 1-1-1 Kouto, Sayo, Hyogo 679-5148, Japan) ,  Inubushi Yuichi (RIKEN SPring-8 Center, 1-1-1 Kouto, Sayo, Hyogo 679-5148, Japan) ,  Inubushi Yuichi (Japan Synchrotron Radiation Research Institute, 1-1-1 Kouto, Sayo, Hyogo 679-5198, Japan) ,  Tono Kensuke (RIKEN SPring-8 Center, 1-1-1 Kouto, Sayo, Hyogo 679-5148, Japan) ,  Tono Kensuke (Japan Synchrotron Radiation Research Institute, 1-1-1 Kouto, Sayo, Hyogo 679-5198, Japan) ,  Inagaki Takahiro (RIKEN SPring-8 Center, 1-1-1 Kouto, Sayo, Hyogo 679-5148, Japan) ,  Katayama Tetsuo (RIKEN SPring-8 Center, 1-1-1 Kouto, Sayo, Hyogo 679-5148, Japan) ,  Katayama Tetsuo (Japan Synchrotron Radiation Research Institute, 1-1-1 Kouto, Sayo, Hyogo 679-5198, Japan) ,  Amemiya Yoshiyuki (Department of Advanced Materials Science, Graduate School of Frontier Sciences, The University of Tokyo, 5-1-5 Kashiwanoha, Kashiwa, Chiba 277-8561, Japan) ,  Tanaka Hitoshi (RIKEN SPring-8 Center, 1-1-1 Kouto, Sayo, Hyogo 679-5148, Japan) ,  Yabashi Makina (RIKEN SPring-8 Center, 1-1-1 Kouto, Sayo, Hyogo 679-5148, Japan) ,  Yabashi Makina (Japan Synchrotron Radiation Research Institute, 1-1-1 Kouto, Sayo, Hyogo 679-5198, Japan)
資料名： Physical Review Accelerators and Beams  (Physical Review Accelerators and Beams)
巻： 21  号： 8  ページ： 080704  発行年： 2018年 
JST資料番号： W5064A  ISSN： 2469-9888  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： フェムト秒電子バンチ(eバンチ)の時間プロファイルを診断するためのX線Hanbury Brown-Twiss干渉法を示した。eバンチからの自発X線放射の強度干渉はeバンチプロファイルを反映することを示した。この関係に基づいて,X線自由電子レーザ(XFEL)光を生成するSPring-8オングストローム複合自由電子レーザ(SACLA)における8.1GeV電子バンチの時間プロファイルを強度干渉測定により特性化した。このeバンチプロファイルを数値シミュレーションと組み合わせて,eバンチにより発生したXFELパルス幅は10fs以下であると推定した。Copyright 2019 The American Physical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *干渉 ,  パルス幅 ,  *干渉測定 ,  キャラクタリゼーション ,  フェムト秒 ,  *X線 ,  自由電子レーザ ,  X線自由電子レーザ ,  *継続時間
準シソーラス用語： 数値シミュレーション ,  SPring-8 ,  X線放射 ,  *電子バンチ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 電子ビーム,イオンビーム  (BD02030F) ,  その他のレーザ  (BD04090H)

タイトルに関連する用語 (4件)： 電子バンチ ,  持続時間 ,  X線 ,  干渉法