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J-GLOBAL ID：201902267239293462   整理番号：19A1414583

フェムト秒音響の時間領域解析による原子的に薄い界面層の弾性特性の抽出【JST・京大機械翻訳】

Extracting elastic properties of an atomically thin interfacial layer by time-domain analysis of femtosecond acoustics

著者 (6件)： Chen H.-Y. (Graduate Institute of Photonics and Optoelectronics, National Taiwan University, Taipei 10617, Taiwan) ,  Huang Y.-R. (Molecular Imaging Center, National Taiwan University, Taipei 10617, Taiwan) ,  Shih H.-Y. (Department of Materials Science and Engineering, National Taiwan University, Taipei 10617, Taiwan) ,  Chen M.-J. (Department of Materials Science and Engineering, National Taiwan University, Taipei 10617, Taiwan) ,  Sheu J.-K. (Institute of Electro-Optical Science and Engineering and Advanced Optoelectronic Technology Center, National Cheng Kung University, Tainan 70101, Taiwan) ,  Sun C.-K. (Graduate Institute of Photonics and Optoelectronics, National Taiwan University, Taipei 10617, Taiwan)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 111  号： 21  ページ： 213101-213101-5  発行年： 2017年 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： より高密度の設計と複雑な3D構造を採用する現代のデバイスは,原子的に薄い界面層が形成できる以前よりもはるかに多くの界面を作り出した。しかし,界面層の弾性特性のような基本的な情報は測定が困難である。界面層の弾性特性は,現代のデバイスの熱管理とナノ工学の両方において非常に重要である。いくつかの原子のみのような薄い界面層の弾性特性を調べるための適切な技術が必要である。本研究では,透過型電子顕微鏡の助けを借りて,1.85nm厚の界面層の弾性特性と質量密度を抽出するために時間分解フェムト秒音響法を利用することの実現可能性を実証した。このフェムト秒音響アプローチは原子的に薄い界面層の絶対弾性特性を測定するための戦略を提供すると信じる。Copyright 2019 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 三次元 ,  熱管理 ,  *音響 ,  *界面 ,  電子顕微鏡観察 ,  *フェムト秒 ,  透過型電子顕微鏡
準シソーラス用語： 質量密度 ,  高密度 ,  *弾性特性 ,  *界面層 ,  時間領域解析 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 酸化物薄膜  (BK14050P) ,  金属-絶縁体-金属構造  (BM03087F)

タイトルに関連する用語 (6件)： フェムト秒 ,  音響 ,  時間領域解析 ,  原子 ,  界面層 ,  弾性特性